[发明专利]一种场传感器校准系统和方法有效

专利信息
申请号: 201510956142.X 申请日: 2015-12-17
公开(公告)号: CN105527598B 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 康宁;马永光;杨金涛;吴红森 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;H01Q1/36;G01R29/08
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 黄熊
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 传感器 校准 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种场传感器校准系统,包含单锥体和平面体,所述单锥体和平面体均为导体,其特征在于,

所述单锥体沿轴向旋转对称,包含顶面、底面、侧面,所述单锥体从顶面至底面逐渐变细;所述侧面的旋转曲线形状为指数曲线;

所述单锥体的轴向与所述平面体相垂直,构成一单锥体天线,所述单锥体的顶面位于远端,所述单锥体的底面与馈电的同轴电缆的内导体连接,在所述单锥体与所述平面体之间产生时域脉冲辐射场;

所述旋转曲线的方程为:y=reCz,且其中r为单锥体底面半径,C为指数项系数,R为单锥体顶面半径,h为单锥体高度。

2.如权利要求1所述场传感器校准系统,其特征在于,包含一时域脉冲发生器,所述时域脉冲发生器产生脉冲信号,通过所述馈电的同轴电缆输入到所述单锥体。

3.一种场传感器校准方法,用权利要求1或2所述的系统,其特征在于,包含以下步骤:

在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域,在该立方体的顶点及各边中点设置参考点,分别计算有、无场传感器的情况下所述参考点的电场强度,比较所述有、无场传感器的情况下各参考点电场强度,得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。

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