[发明专利]断路器触头磨损采集系统、判断系统、采集方法和判断方法有效

专利信息
申请号: 201510957281.4 申请日: 2015-12-18
公开(公告)号: CN105424525B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 陈建强;王宝华;陈斌;李明忠;何韬 申请(专利权)人: 江苏森源电气股份有限公司;南京理工大学
主分类号: G01N3/56 分类号: G01N3/56;G01R31/327
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 215313 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 断路器 磨损 采集 系统 判断 方法
【权利要求书】:

1.断路器触头磨损采集系统,其特征在于:包括力传感器、触发电路、SPI、DSP系统和ARM系统,所述力传感器的输出端与DSP系统连接,DSP系统通过SPI和ARM系统连接,所述触发电路的输出接点两端分别与DSP系统的电源与外部中断引脚相连,还包括触摸显示屏,所述触摸显示屏与ARM系统连接;

所述力传感器用以测量合闸力大小,所述触发电路用以触发DSP外部中断进行采样,所述DSP系统用以进行AD采样、数据处理并通过SPI将数据发送至ARM系统,所述ARM系统用以接收DSP发送的数据、保存并显示在触摸显示屏上。

2.如权利要求1所述的断路器触头磨损采集系统,其特征在于:还包括连接于力传感器与DSP系统之间的AD采样芯片,所述AD采样芯片的型号为AD7606,所述DSP系统中的DSP芯片型号为TMS320F28335,所述ARM系统中的ARM芯片的型号为S3C6410。

3.如权利要求1所述的断路器触头磨损采集系统,其特征在于:所述触发电路包括两组电阻和光耦继电器,所述两组电阻分别串联在光耦继电器两输入端。

4.断路器触头磨损判断系统,其特征在于:包括力传感器、触发电路、SPI、DSP系统和ARM系统,所述力传感器的输出端与DSP系统连接,DSP系统通过SPI和ARM系统连接,所述触发电路的输出接点两端分别与DSP系统的电源与外部中断引脚相连,还包括触摸显示屏,所述触摸显示屏与ARM系统连接;

所述力传感器用以测量合闸力大小,所述触发电路用以触发DSP外部中断进行采样,所述DSP系统用以进行AD采样、数据处理并通过SPI将数据发送至ARM系统,所述ARM系统用以接收DSP系统发送的数据、保存并显示在触摸显示屏上,所述ARM系统还包括判断模块,用以判断断路器触头磨损并在触摸显示屏上显示。

5.如权利要求4所述的断路器触头磨损判断系统,其特征在于:还包括连接于力传感器与DSP系统之间的AD采样芯片,所述AD采样芯片的型号为AD7606,所述DSP系统中的DSP芯片型号为TMS320F28335,所述ARM系统中的ARM芯片的型号为S3C6410。

6.如权利要求4所述的断路器触头磨损判断系统,其特征在于:所述触发电路包括两组电阻和光耦继电器,所述两组电阻分别串联在光耦继电器两输入端。

7.断路器触头磨损采集方法,其特征在于:当断路器收到分闸或合闸指令时,与分合闸线圈并联的电阻光耦继电器支路两端同时获得电压,光耦继电器输出接点闭合使DSP得到信号,DSP外部中断产生下降沿变为低电平,经过防抖判定后,DSP进入采样中断,DSP为外部AD提供时钟并读取采样结果存入数组,接着通过SPI发送该数组给ARM系统,ARM系统中的SPI驱动模块在SPI收到数据之后将后台进入中断,自动保存合闸力数据,并在触摸显示屏上显示。

8.断路器触头磨损判断方法,其特征在于:当断路器收到分闸或合闸指令时,与分合闸线圈并联的电阻光耦继电器支路两端同时获得电压,光耦继电器输出接点闭合使DSP得到信号,DSP外部中断产生下降沿变为低电平,经过防抖判定后,DSP进入采样中断,DSP为外部AD提供时钟并读取采样结果存入数组,接着通过SPI发送该数组给ARM系统,ARM系统中的SPI驱动模块在SPI收到数据之后将后台进入中断,自动保存合闸力数据,在判断触头磨损之前,按上述采集方法,采集到全新断路器的合闸力大小以及触头磨损达到一定程度的断路器的合闸力作为参考值,将新测得的合闸力大小送入判断模块与参考值对比,可得出磨损程度,最后将合闸力大小及磨损程度在触摸显示屏上显示。

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