[发明专利]检测系统和方法

权利要求书

1.一种检测系统，包括：

分布式射线源，该分布式射线源上具有多个射线源焦点，每个射线源焦点辐射射线以照射受检物，并且这多个射线源焦点被分成一定数量的群组；

前准直器，每个射线源焦点的射线经由前准直器限制而射向XRD检测设备；

XRD检测设备，该XRD检测设备包括多个XRD探测器，这多个XRD探测器被分组成与射线源焦点的群组数相同数量的群组，并且相同群组的XRD探测器以被其他群组的XRD探测器间隔开的方式布置，并且其中，每个射线源焦点的射线仅由具有相同群组编号的XRD探测器接收。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其中，所述前准直器将每个射线源焦点的射线分成两部分，一部分用于XRD检测，另一部分用于CT检测，并且其中，所述CT检测与所述XRD检测同时执行。

3.根据权利要求1或2所述的检测系统，其中，每个射线源焦点能够独立点亮来辐射射线。

4.根据权利要求3所述的检测系统，其中，每个射线源焦点的射线为笔束并呈扇形分布，每条笔束射线被射入与该射线源焦点具有相同群组编号的XRD探测器。

5.根据权利要求1所述的检测系统，所述XRD检测设备包括XRD透射探测器和XRD散射探测器，其中，所述XRD透射探测器被布置在所述分布式射线源的照射平面内，并且所述XRD散射探测器被布置在与所述分布式射线源的照射平面平行但在受检物的传送方向距离一定距离的平面。

6.根据权利要求5所述的检测系统，其中，所述检测系统还包含后准直器，所述后准直器从用于XRD检测的射线经受检物各点散射的散射线中选择具有固定散射角的散射线以射入XRD散射探测器中。

7.根据权利要求6所述的检测系统，其中，所述后准直器为三段折线式多层叶片式细缝形式，其中靠近两头的区段与中间的区段的延伸线之间具有一定的折角。

8.根据权利要求7所述的检测系统，其中，所述折角在5°到40°的范围内，优选在10°到20°的范围内。

9.根据权利要求1所述的检测系统，其中，所述分布式射线源上的射线源焦点和所述XRD探测器分别被分为三个群组，并且所述多个XRD探测器按照第一群组的XRD探测器、第二群组的XRD探测器、第三群组的XRD探测器的顺序循环布置。

10.根据权利要求1所述的检测系统，其中，所述前准直器包括至少一个准直器，这至少一个准直器被布置在射线源焦点发射的射线的凝聚点处，以使得每个射线源焦点发射的射线仅由所述多个XRD探测器中与该射线源焦点的群组编号相同群组编号的XRD探测器接收。

11.一种检测方法，包括：

通过分布式射线源照射受检物，其中，分布式射线源上具有多个射线源焦点，并且这多个射线源焦点被分成一定数量的群组；

将XRD检测设备的多个XRD探测器分组成与射线源焦点的群组数相同数量的群组，并且相同群组的XRD探测器以被其他群组的XRD探测器间隔开的方式布置；

在每个射线源焦点辐射射线时，通过前准直器进行控制以使得每个射线源焦点辐射射线仅由所述多个XRD探测器中与该射线源焦点的群组编号相同群组编号的XRD探测器接收。

12.根据权利要求11所述的检测方法，还包括：利用前准直器将每个射线源焦点的射线分成两部分，一部分用于XRD检测，另一部分用于CT检测，其中，所述XRD检测和所述CT检测同时进行。

13.根据权利要求11或12所述的检测方法，其中，每个射线源焦点能够独立点亮来辐射射线。