[发明专利]基于FPGA继电器断开时间的测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种继电器断开时间的测试装置及测试方法，特别是基于FPGA继电器断开时间测试装置及测试方法。

背景技术

在产品的应力筛选试验中，继电器的断开时间长短对电机工作性能的影响是一个不确定的因素。鉴于FPGA(EP2C5Q208)具有时序控制能力强的优点，本发明实现了一种基于FPGA(EP2C5Q208)来测试在振动过程中控制力矩电机的继电器的断开时间，来判断在振动条件下继电器的可靠性是否满足指标要求，是否可以应用于产品的生产中。

发明内容

为了克服现有技术的缺点，本发明提供一种基于FPGA继电器断开时间的测试装置及测试方法。可以实时、有效、准确地记录产品在振动过程中继电器的最大断开时间和断开次数，操作简单、易于实现。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是：

一种基于FPGA的继电器断开时间测试装置，包括信号输入单元、FPGA(现场可编程门阵列)测试单元和显示执行单元；所述信号输入单元包括继电器和反向器；所述FPGA测试单元包括采集功能模块、比较功能模块、计时功能模块和显示功能模块，计时功能模块提供时间基准,可以改变时钟频率50MHz～200MHz；所述显示执行单元包括功能选择按键和计时显示器。

一种基于FPGA的继电器断开时间测试方法，包括下列步骤：1)、产品在振动过程中，信号输入单元中的继电器触点断开时为低电平信号，将低电平信号发送给反向器进行反向变为高电平信号后，送给FPGA测试单元中的采集功能模块进行采集，采集功能模块按照计时功能模块开始计时继电器的断开时间和断开次数，时钟频率选为50MHz，即采样时间为20ns，首次断开次数置0，直至继电器触点闭合结束计时；2)、继电器触点闭合时为高电平信号，将高电平信号发送给反向器进行反向变为低电平信号后送给所述FPGA测试单元的采集功能模块，此时采集功能模块不进行采集，采集结束，此时继电器的一次断开时间记录完成；3)、采集功能模块将采集到的继电器断开时间和断开次数实时送给所述比较功能模块，进行累积比较和断开次数计算，比较出最大断开时间，至下一次继电器断开，重新采集计时，如此往复采集比较；4)、振动完成时，按下显示执行单元中的功能选择按键，功能选择按键发送命令给比较功能模块，比较功能模块将最大断开时间和断开次数送给显示功能模块进行处理后，送给所述显示执行单元中的计时显示器进行显示输出。

本发明具有下列优点：1)实现了对产品在振动过程中的继电器断开的最大时间和断开次数的监测，以此来对产品在振动过程中的功能正常与否进行判断，对继电器是否满足产品实现断电自锁功能进行了有效地论证；2)、可以实时、有效、准确地记录产品在振动过程中继电器的最大断开时间和断开次数，操作简单，易于实现。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1为本发明原理框图。

具体实施方式

如图1所示，本发明包括信号输入单元1、FPGA(现场可编程门阵列)测试单元2和显示执行单元3；所述信号输入单元1包括继电器和反向器；所述FPGA测试单元2包括采集功能模块、比较功能模块、计时功能模块和显示功能模块，计时功能模块提供时间基准,可以改变时钟频率50MHz～200MHz；所述显示执行单元3包括功能选择按键和计时显示器。

本发明包括下列步骤：1)、产品在振动过程中，信号输入单元1中的继电器触点断开时为低电平信号，将低电平信号发送给反向器进行反向变为高电平信号后，送给FPGA测试单元2中的采集功能模块进行采集，采集功能模块按照计时功能模块开始计时继电器的断开时间和断开次数，时钟频率选为50MHz，即采样时间为20ns，首次断开次数置0，直至继电器触点闭合结束计时；2)、继电器触点闭合时为高电平信号，将高电平信号发送给反向器进行反向变为低电平信号后送给所述FPGA测试单元2的采集功能模块，此时采集功能模块不进行采集，采集结束，此时继电器的一次断开时间记录完成；3)、采集功能模块将采集到的继电器断开时间和断开次数实时送给所述比较功能模块，进行累积比较和断开次数计算，比较出最大断开时间，至下一次继电器断开，重新采集计时，如此往复采集比较；4)、振动完成时，按下显示执行单元3中的功能选择按键，功能选择按键发送命令给比较功能模块，比较功能模块将最大断开时间和断开次数送给显示功能模块进行处理后，送给所述显示执行单元3中的计时显示器进行显示输出。