[发明专利]用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统在审

专利信息
申请号: 201510962268.8 申请日: 2015-12-21
公开(公告)号: CN105572864A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 王丽萍;张海涛;马冬梅 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 朱红玲
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 用于 超高 精度 球面 检测 补偿 光学系统
【权利要求书】:

1.用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统,包括透射组(1)、补偿组(2)和待检 非球面凸镜(3),所述透射组(1)透射球面波,补偿组(2)将透射组(1)透射的球面波转化为 与待检非球面凸镜(3)匹配的非球面波;其特征是;所述透射组(1)的F/#为10,补偿组(2)的 F/#为6.4,待检非球面凸镜(3)的F/#为3.6。

2.根据权利要求1所述的用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统,其特征在于, 所述透射组(1)由透镜L1、透镜L2和透镜L3构成,所述透镜L1,透镜L2及透镜L3材料为熔石 英。

3.根据权利要求1或2所述的用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统,其特征在 于,补偿组(2)由透镜L4构成,所述透镜L4的材料为熔石英。

4.根据权利要求3所述的用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统,其特征在于, 所述透镜组(1)透射球面波像差设计值小于0.005λRMS,λ为波长。

5.根据权利要求3所述的用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统,其特征在于, 所述待检非球面凸镜(3)的圆锥系数K为3.27,非球面度20μm。

6.根据权利要求5所述的用于超高精度凸非球面检测的补偿器光学系统,其特征在于, 补偿器光学系统的波像差泽尼克多项式三阶球差Z9项系数为0.0006,波像差泽尼克多项式 五阶球差项Z16系数为-0.0004,实现了像差补偿。

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