[发明专利]一种扫描热激励红外成像检测系统及方法

权利要求书

1.一种扫描热激励红外成像检测系统，其特征在于所述系统包括：

红外热像仪（15），所述红外热像仪（15）用于采集被测试件（11）表面的热波图像；

图像采集处理单元（20），所述图像采集处理单元（20）用于对所述红外热像仪（15）采集的热波图像进行处理分析；

热激励源（23），所述投射热激励源（23）具有近准直辐射能束，用于对所述试件（11）的表面进行热激励；

旋转台（22），所述旋转台（22）用于带动所述投射热激励源（23）对所述试件（11）表面进行扫描热激励；

旋转台驱动（21），所述旋转台驱动（21）在所述图像采集处理单元（20）控制下，用于驱动所述旋转台（22）的偏转。

2.一种扫描热激励红外成像检测系统，其特征在于所述系统包括：

红外热像仪（15），所述红外热像仪（15）用于采集被测试件（11）表面的热波图像；

图像采集处理单元（20），所述图像采集处理单元（20）用于对所述红外热像仪（15）采集的热波图像进行处理分析；

热激励源（23），所述热激励源（23）具有近准直辐射能束，用于对所述试件（11）的表面进行热激励；

旋转台（22），所述旋转台（22）带动反射镜（25），用于偏转所述热激励源（23）以对所述试件（11）表面进行扫描热激励；

旋转台驱动（21），所述旋转台驱动（21）在所述图像采集处理单元（20）控制下，用于驱动所述旋转台（22）的偏转。

3.一种扫描热激励红外成像检测系统，其特征在于所述系统包括：

红外热像仪（15），所述红外热像仪（15）用于采集被测试件（11）表面的热波图像；

图像采集处理单元（20），所述图像采集处理单元（20）用于对所述红外热像仪（15）采集的热波图像进行处理分析；

热激励源（23），所述热激励源（23）辐射高密度能量，用于对所述试件（11）的表面进行热激励；

扫描平台（32），所述扫描平台（32）带动所述热激励源（23）对所述试件（11）的表面进行热激励；

扫描平台驱动（31），所述扫描平台驱动（31）在所述图像采集处理单元（20）的控制下，用于驱动所述扫描平台（32）。

4.根据权利要求3所述的一种扫描热激励红外成像检测系统，所述系统进一步包括隔热板（33），所述隔热板（33）用于将所述热激励源（23）自身热辐射挡住，以避免干扰热波图像的采集。

5.根据权利要求3所述的一种扫描热激励红外成像检测系统，所述热激励源（23）为电磁辐射、离子辐射、热气流、超声波、或高频电磁场中的一种。

6.一种扫描热激励红外成像检测方法，所述方法包括：

采用扫描热激励源（23）的方式对试件表面进行热激励；

采用红外热像仪（15）连续采集热波图像序列；

根据热激励源在试件（11）表面扫描的速率，对采集到的所述热波图像序列进行延时校正，并得到每个像素都具有相同延时的热波图像。

7.根据权利要求6所述的一种扫描热激励红外成像检测方法，所述热激励源（23）可为红外灯管、热风、超声波、高频电磁场的一种。

8.根据权利要求6所述的一种扫描热激励红外成像检测方法，所述扫描热激励源（23）的方式包括直接旋转热激励源（23）、利用旋转反射镜折射热激励源（23）的辐射、或直线扫描热激励源（23）的一种。

9.根据权利要求6所述的一种扫描热激励红外成像检测方法，所述延时校正的方法包括：

根据所述热激励源（23）的扫描速率计算出每个像素行之间的热激励延时参数；

将所述热波图像序列同一像素点的数值按时间顺序排列起来，并结合所述热激励延时参数进行拟合，得到拟合曲线（64）；

将所要呈现的热波图像时刻代入相应于各个像素的所述拟合曲线（64）计算公式，得到所需热波图像。

10.根据权利要求6所述的一种扫描热激励红外成像检测方法，进一步包括采用隔热板（33）在扫描结束时将所述热激励源（23）的热辐射与所述红外热像仪（15）的视场隔离。