[发明专利]一种IC卡静电测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201510967393.8 申请日: 2015-12-21
公开(公告)号: CN105403795B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 吴维德;龙海莲;向景睿;罗银康;金鑫;吴勇;王伟;陈旭;曾世杰;李嘉 申请(专利权)人: 国网四川省电力公司电力科学研究院;北京智芯微电子科技有限公司;国家电网公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 王正茂
地址: 610072 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 ic 静电 测试 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种IC卡静电测试装置及测试方法,该方法包括:DA转换电路、正高压电源、负高压电源、电源切换开关、充放电开关、充电电容、第一电阻、第二电阻;DA转换电路的正电压输出端与用于产生正向高压电源的正高压电源的输入端相连,负电压输出端与用于产生负向高压电源的负高压电源的输入端相连,正高压电源的输出端与电源切换开关的第一输入端相连,负高压电源的输出端与电源切换开关的第二输入端相连;电源切换开关的输出端通过第一电阻与充放电开关的常闭输入端相连,充放电开关的输出端通过充电电容后接地;充放电开关的常开输入端通过第二电阻与高压探针相连。该装置采用两个高压电源的设计,提高了输出稳定性,且提高了输出的精。

技术领域

本发明涉及IC卡测试技术领域,具体地,涉及一种IC卡静电测试装置及测试方法。

背景技术

静电放电(ESD)是指带电体周围的场强超过周围介质的绝缘击穿场强时,因介质电离而使带电体上的静电荷部分或全部消失的现象,静电放电是高电位,强电场和瞬时大电流的过程。

对于人体静电放电,通过实验得知最小放电能量也可以达到3.12×10-4焦耳。瞬间的放电电流峰值可以达到几个安培以上。

电力行业使用的IC卡便是一种对静电放电较为敏感的电子线路,由于半导体器件的规模变大,工作电压更低,导致了半导体器件对外界电磁骚扰敏感程度也大大提高。静电放电对于电路引起的干扰,对元器件、CMOS电路及各种接口电路造成的破坏等问题越来越引起人们的重视。

在这些芯片装置或电子线路跟其他物体接触时,依据电荷中和的原则,存在着电荷流动,传送足够的电量以抵消电压。当人们穿着化纤衣物时,人体运动的充电电流为10-7~10-6A,总的充电电荷为(0.1~5)×10-6库伦,人体对地的电容为150~250pF,若以电荷3×10-6库伦计,则充电电压可达5~25kV。

大多数半导体器件都很容易受静电放电而损坏,特别是大规模集成电路更为脆弱。通常以半导体器件中引脚与绝缘层被静电放电击穿的静电电压值来表示半导体器件的易损性。常见的半导体器件对静电放电的易损值为100~3000V。

作为模拟静电放电对IC卡芯片的影响,主要通过传导的方式实施。若电路的某个部分构成了放电路径,即静电放电电流直接侵入设备内的电路,如人手直接触摸IC卡的电路引脚,静电放电电流流过集成片的输入端,造成干扰,甚至永久的物理损伤。

目前市场上用于静电放电发生器测试的装置,普遍采用测试人员手持放电枪进行试验操作的工作方式。这种设备如图1所示。对于受试设备外形较为复杂且静电放电点测试空间较为宽裕情况下,传统的静电放电设备可以满足要求。而对于电力计量领域使用的IC卡而言,它们具有外形平整,静电放电测试点的金属引脚面积极小,相互紧邻,对于传统市场上的手持式静电放电发生器而言人员的操作难度极大,极易引起放电点之间的串扰,复现性也很差,很难满足标准要求。

传统的静电放电发生器最初的设计思路来源于一般民用产品的试验条件和环境,操作人员在执行测试过程中,由于采用手动操作,不可控因素较多,在放电端的快速接近、枪头与被测面的角度、时间间隔等量化的指标上,国际标准和国家标准往往给出的要求较为宽松,实际检测活动也证明了依赖人员的操作,往往会因为量化指标的不完全执行而导致测试结果有出现较大偏离,试验结果的不确定度指标陡然上升。

发明内容

本发明是为了克服现有技术中静电放电发生器输出精度不高的缺陷,根据本发明的一个方面,提出一种IC卡静电测试装置。

本发明实施例提供的一种IC卡静电测试装置,包括:DA转换电路、正高压电源、负高压电源、电源切换开关、充放电开关、充电电容、第一电阻、第二电阻;

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