[发明专利]基于噪声检测自旋转矩振荡器上电的方法、装置和系统

说明书

提供了一种用于实现基于噪声检测用于微波辅助磁记录(MARM)硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO)上电的方法、装置及系统。检测自旋转矩振荡器产生的低频噪声，例如10kHz和100MHz间频率范围内的噪声。将检测的(STO)噪声与预定义阈值相比较，以标识STO上电操作。

技术领域

本发明通常涉及数据存储领域，尤其涉及用于实现基于噪声检测用于微波辅助磁记录(MAMR)硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO)上电的方法、装置和系统。

背景技术

许多数据处理应用程序要求数据长期存储，且一般要求数据高度完整。一般通过非易失性数据存储设备来满足这些需求。各种设备能够提供非易失性存储或持续性介质，最常见的是通过直接访问存储设备(DASD)，其也称作硬盘驱动(HDD)。

微波辅助磁记录(MAMR)使用自旋转矩振荡器(STO)，在磁头尖周围生成局部的微波辐射，以改进磁记录处理。使用具有高矫顽磁性的磁介质的 MAMR，其无法用常规的PMR(垂直磁记录)技术记录，原则上能用于增加比特密度。就像TMR(隧道磁电阻)读元件一样，STO对ESD(静电放电) 事件非常敏感，因此存在检测STO是否操作和其是否已遭受退化的需求。测量STO电阻不足以确定所述STO是否操作，因为未受损的STO和短路的STO 有时具有相似的电阻。

在HDD级不可能直接测量数十GHz频率范围内发生的STO振荡。相反，提出将测量所述设备随STO偏置增加或减少而开(ON)或关(OFF)时发生的STO电阻梯级做为检测STO是否操作的方法。然而，当所述STO处于开状态时，它能过写所述磁盘上之前存在的数据，因而所述提出的电阻梯级检测方法只能用于非常短的时间，约40ns，就如从伺服区域至数据扇区或从数据扇区至伺服区域的头转换。在40ns以下检测STO电阻梯级很有挑战性，且因SNR减少，迄今实现的技术显示了有限的可检测性。另外，因为当写电流以高于数百MHz的频率振荡时电阻梯级不可见，所以写数据时不可能检测所述电阻梯级。

MAMR系统中的一个关键问题是确保所述STO振荡。没有振荡，就不存在辅助效果，以及会损害磁场轨迹因而会损害记录质量。

需要有检测用于微波辅助磁记录(MAMR)硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO)上电和STO操作的有效机制。想要提供此类实现负责提供用于检测STO振荡的前置放大器和前端技术的电路技术的简单机制。

发明内容

优选实施例的方面是提供一种用于实现基于噪声检测自旋转矩振荡器 (STO)上电的方法、装置及系统。优选实施例的其它重要方面是提供基本上无负面效果的此类方法、装置和系统，克服现有技术装置的某些缺点。

简言之，提供一种用于实现基于噪声检测用于微波辅助磁记录(MAMR) 硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO)上电的方法、装置及系统。检测自旋转矩振荡器产生的低频噪声，例如10kHz和100MHz间频率范围内的噪声。将检测的STO噪声与预定义阈值相比，以标识STO上电操作。

附图说明

根据附图所示的本发明优选实施例的以下详细描述，可以最好地理解本发明和上述及其它目标和优点，其中：

图1为示出根据优选实施例、用于实现基于噪声检测用于微波辅助磁记录(MAMR)硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO)上电的系统的框图表示；

图2A和图2B分别示意性示出了根据优选实施例、用于实现基于噪声检测用于微波辅助磁记录(MAMR)硬盘驱动(HDD)的自旋转矩振荡器(STO) 上电的实例装置和实例电路；

图3A和图3B分别示出了根据优选实施例、作为用于静态写电流的STO 偏置的函数的STO各实例性测量的噪声及电阻梯级的实例波形；