[发明专利]实现光路检测的方法、管理系统及光时域反射仪设备在审
申请号: | 201510976652.3 | 申请日: | 2015-12-23 |
公开(公告)号: | CN106911378A | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 张德智;蒋铭;沈成彬 | 申请(专利权)人: | 中国电信股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 许蓓 |
地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实现 检测 方法 管理 系统 时域 反射 设备 | ||
1.一种实现含循环阵列波导光栅CAWG的多波长无源光网络PON光路检测方法,包括:
管理系统确定待检测分支光纤对应的CAWG通道端口,根据CAWG的周期特性获取CAWG通道端口对应的多个周期性波长;
管理系统根据光时域反射仪OTDR设备的波长协调范围从所述多个周期性波长中选择非OLTx工作波长作为测试波长;
管理系统将测试波长信息发送给光时域反射仪OTDR设备,并通知OTDR设备在CAWG通道端口OLTx对应的测试波长上对待检测分支光纤进行光路检测。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
管理系统将待检测分支光纤对应的长度信息发送给OTDR设备,并通知OTDR设备预测待检测分支光纤的测试时长t;
管理系统接收来自OTDR设备的测试时长t;
管理系统确定测试起始时间T;
管理系统通知OTDR设备及AWG通道端口OLTx在测试时间段[T,T+t]内进行光路检测。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,管理系统从资源系统记录的信息中查找待检测分支光纤对应的CAWG通道端口。
4.一种实现含循环阵列波导光栅CAWG的多波长无源光网PON络光路检测方法,包括:
OTDR设备接收来自管理系统的AWG通道端口OLTx对应的测试波长信息;
响应于管理系统发出的检测通知,OTDR设备在AWG通道端口OLTx对应的测试波长信息上对待检测分支光纤进行光路检测。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
OTDR设备接收来自管理系统的待检测分支光纤对应的长度信息;
OTDR设备根据待检测分支光纤对应的长度信息以及AWG通道端口OLTx对应的测试波长信息,预测待检测分支光纤的测试时长t;
OTDR设备向管理系统发送待检测分支光纤的测试时长t;
OTDR设备接收来自管理系统的测试时间段[T,T+t]信息;
OTDR设备在测试时间段[T,T+t]进行光路检测。
6.一种实现含循环阵列波导光栅CAWG的多波长无源光网络PON光路检测的管理系统,包括:
波长信息获取模块,用于确定待检测分支光纤对应的CAWG通道端口,根据CAWG的周期特性获取CAWG通道端口对应的多个周期性波长;
测试波长选择模块,用于根据光时域反射仪OTDR设备的波长协调范围从所述多个周期性波长中选择非OLTx工作波长作为测试波长;
信息发送模块,用于将测试波长信息发送给光时域反射仪OTDR设备,并通知OTDR设备在CAWG通道端口OLTx对应的测试波长上对待检测分支光纤进行光路检测。
7.根据权利要求6所述的管理系统,其特征在于,
信息发送模块还用于将待检测分支光纤对应的长度信息发送给OTDR设备,并通知OTDR设备预测待检测分支光纤的测试时长t;
所述管理系统还包括:
信息接收模块,用于接收来自OTDR设备的测试时长t;
起始时间确定模块,用于确定测试起始时间T;
测试时间段通知模块,用于通知OTDR设备及AWG通道端口OLTx在测试时间段[T,T+t]内进行光路检测。
8.根据权利要求6所述的管理系统,其特征在于,所述波长信息获取模块从资源系统记录的信息中查找待检测分支光纤对应的CAWG通道端口。
9.一种实现含循环阵列波导光栅CAWG的多波长无源光网络PON光路检测的OTDR设备,包括:
信息接收模块,用于接收来自管理系统的AWG通道端口OLTx对应的测试波长信息;
光路检测模块,用于响应于管理系统发出的检测通知,OTDR设备在AWG通道端口OLTx对应的测试波长信息上对待检测分支光纤进行光路检测。
10.根据权利要求9所述的OTDR设备,其特征在于,所述方法还包括:
信息接收模块还用于接收来自管理系统的待检测分支光纤对应的长度信息;
OTDR设备还包括测试时长预测模块,用于根据待检测分支光纤对应的长度信息以及AWG通道端口OLTx对应的测试波长信息,预测待检测分支光纤的测试时长t;
OTDR设备还包括信息发送模块,用于向管理系统发送待检测分支光纤的测试时长t;
信息接收模块还用于接收来自管理系统的测试时间段[T,T+t]信息;
光路检测模块还用于在测试时间段[T,T+t]进行光路检测。
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