[发明专利]一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学仪器，尤其涉及一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法。

背景技术

斜入射光反射差法是近年来发展起来的一种非接触、无损伤的高灵敏度探测新方法，利 用在样品表面反射的光，不仅可同时获得实部和虚部两路信号，具有很高的灵敏度，而且具 有很高的空间分辨率和时间分辨率。但是由于传统斜入射光反射差方法是用反射光只能探测 样品的表面信息，不能探测到样品的内部信息，这使得斜入射光反射差法在实际应用中受到 了一定的限制。

发明内容

本发明的目的是克服现有斜入射光反射差测量技术的缺陷，从而提供一种斜入射光反射 差法探测样品三维结构的方法，该方法具有操作简单、系统噪声低、能定性、定量分析岩心 样品三维结构的特点。

本发明提供的一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法，包括以下步骤：

1.岩心样品制备：将岩心样品进行切片，得到多个岩心薄片；

2.岩心样品处理：用砂纸或磨轮将岩心薄片两个端面磨平，并且厚度相同，将岩心薄片 其中一个磨平的端面向下，固定在斜入射光反射差装置的样品台上，另一个磨平的端面作为 探测光的入射面；

3.探测：将斜入射光反射差装置启动，按照常规斜入射光反射差法进行探测，用光电二 极管做探测器，用数据采集和处理系统进行数据采集和处理，按照要求，用斜入射光反射差 法对岩心薄片样品进行扫描探测；

4.对步骤1得到的岩心薄片按照顺序依次进行步骤2-3。

在上述的技术方案中，所述的样品台为带有固定结构的二维平移台。

在上述的技术方案中，所述的数据采集和处理系统为微型电子计算机或微处理器。

本发明的优点在于：本发明提供的基于斜入射光反射差的CT装置突破了传统斜入射光 反射差方法只能探测物体表面二维信息的局限性，可以获得岩心样品的三维信息，并且可以 通过调节三维位移平台的竖向位移步进来调节设备竖向空间分辨率，结合斜入射光反射差方 法在二维上的高分辨率，可以得到高分辨率的三维测量结果，使其在油气领域上得到更为广 泛的应用。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术 描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一 些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些 附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本发明实施例中一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法的示意图；

图中：

101----激光器102----起偏器103----光弹调制器104----移相器

105----聚焦装置106----样品台107----岩心薄片样品108----检偏器

109----光电信号转换器110----信号放大装置111----数据采集和处理系统

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本发明实施 例做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为 对本发明的限定。

为了有效实现对岩心三维结构的测量，本发明实施例提供一种斜入射光反射差法探测样 品三维结构的方法。图1为本发明实施例中一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法 的示意图。

本发明提供的一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法，包括以下步骤：

1.岩心样品制备：使用切割机将岩心样品进行切片，得到多个岩心薄片107；

2.岩心样品处理：用砂纸或磨轮将岩心薄片107两个端面磨平，并且厚度相同，将岩心 薄片107其中一个磨平的端面向下，固定在斜入射光反射差装置的样品台106上，另一个磨 平的端面作为探测光的入射面；