[发明专利]基于斜入射光反射差方法的CT装置和方法在审
申请号: | 201510982145.0 | 申请日: | 2015-12-25 |
公开(公告)号: | CN105424607A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 赵昆;王金;詹洪磊 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21;G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 入射 反射 方法 ct 装置 | ||
1.一种基于斜入射光反射差方法的CT装置,其特征在于,包括:壳体、入射光路、样品台、出射光路、信号放大装置、数据采集和处理系统和去材料装置,所述入射光路、样品台、出射光路、信号放大装置、数据采集和处理系统和去材料装置固定在壳体上;所述入射光路包括激光器、起偏器、光弹调制器和移相器,其中在激光器输出光前方光路上顺序设置所述起偏器、光弹调制器和移相器;所述出射光路包括检偏器和光电信号转换器,经样品台上的样品反射后的出射光束前方顺序设置所述检偏器和光电信号转换器;所述光电信号转换器通过信号放大装置连接到所述数据采集和处理系统;所述入射光路中还包括设置于移相器和样品台之间的聚焦装置。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述样品台为高精密三维平移台。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述去材料装置为磨削装置或飞切装置,固定在样品台上方。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述数据采集和处理系统包括,BNC适配器、数据采集卡和数据处理装置;其中所述数据采集卡采集BNC适配器输出的数据,并传送给数据处理装置;其中所述数据处理装置为电子计算机或微处理器,对数据采集卡发送来的数据进行存储、分析和处理。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述壳体上还存在一个操作窗口,可以通过操作窗口对岩心样品进行操作。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述壳体上还存在一个显示装置,与数据处理装置相连接,用于显示测量结果以及设备状态;所述壳体上还存在一个操作装置,与数据处理装置连接,用于对设备运行进行操作。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述的基于斜入射光反射差方法的CT装置进行岩心三维结构检测时包括以下步骤:
(1)用砂纸或磨轮将岩心端面磨平,将岩心放在基于斜入射光反射差方法的CT装置的样品台上,磨平的端面向下;
(2)打开激光器,输出的激光入射到起偏器,调节起偏器的透光轴方向,使其平行于基片入射平面的P偏振方向,从起偏器出射的偏振光通过前方的光弹调制器,光弹调制器的频率设为50kHz,调节相移器,将基频信号调零,调节样品台,使光路通过样品,调节聚焦装置,使得光汇聚在样品表面处,用光电二极管做探测器,用电子计算机或微处理器对检测结果进行数据采集和处理;
(3)使用去材料装置去除一层样品,重复步骤1-2;
(4)重复步骤1-3,测量完成后关机。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油大学(北京),未经中国石油大学(北京)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510982145.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。