[发明专利]过热检测电路及半导体装置

说明书

本发明题为过热检测电路及半导体装置。本发明提供不会因瞬间的电源电压变动等的干扰噪声而进行意外的误输出而在过热状态下能够迅速输出过热状态检测信号的过热检测电路。过热检测电路采用这样的结构，即，具备：感温部；比较部；以及在既定延迟时间后将过热状态检测信号向输出部输出的干扰噪声除去部，延迟时间与温度成比例地缩短。

技术领域

本发明涉及检测半导体装置的异常温度的过热检测电路。

背景技术

图2示出现有的过热检测电路。现有的过热检测电路由基准电压部210、感温部211、比较部212构成。感温部211具备电流源202和用于感温的PN结元件203，比较部212具备比较器204。比较器204的输出与过热检测电路的输出端子Vout连接。

现有的过热检测电路通过比较器204比较判定在PN结元件203产生的电压和基准电压部210输出的基准电压Vref，输出过热状态检测信号。

在PN结元件203产生的电压，通常示出负的温度特性，因此周围的温度变高，若在PN结元件203产生的电压小于基准电压Vref，则比较器204向过热检测电路的输出端子Vout输出过热状态检测信号。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009－192507号公报。

发明内容

发明要解决的课题

然而，上述过热检测电路存在当发生瞬间的电源变动等的干扰噪声时，比较器204有可能会错误地输出过热状态检测信号这一问题。

本发明为解决以上那样的问题而构思，提供避免因干扰噪声造成的误输出的过热检测电路。

用于解决课题的方案

为了解决现有的问题，本发明的过热检测电路采用以下结构。

过热检测电路采用这种结构，即，具备：感温部；比较部；以及在既定延迟时间后将过热状态检测信号向输出部输出的干扰噪声除去部，延迟时间与温度成比例地缩短。

发明效果

依据本发明的过热检测电路，能够提供不会出现瞬间的电源变动等的干扰噪声造成的意外的误输出，而在过热状态下能够迅速输出过热状态检测信号的过热检测电路。

附图说明

图1是本实施方式的过热检测电路的电路图。

图2是涉及到现有的过热检测电路的电路图。

图3是示出本实施方式的过热检测电路所涉及的电流源的电路图。

图4是示出本实施方式的过热检测电路所涉及的电流源的其他例子的电路图。

具体实施方式

图1是本实施方式的过热检测电路的电路图。

本实施方式的过热检测电路具备基准电压部210、感温部211、比较部212和干扰噪声除去部110。感温部211具备电流源202和用于感温的PN结元件203。比较部212具备比较器204。干扰噪声除去部110具备Nch（N沟道）晶体管101、电流源102、电容103和反相器104。

电流源202和PN结元件203在电源端子与接地端子之间串联连接。比较器204的反相输入端子连接有基准电压部210的输出端子，在同相输入端子连接有电流源202与PN结元件203的连接点。Nch晶体管101的控制端子连接有比较器204的输出端子，源极连接有接地端子。电流源102和电容103在电源端子与接地端子之间连接。反相器104的输入端子连接有电流源102与电容103的连接点，输出端子与过热检测电路的输出端子Vout连接。