[发明专利]一种M2型单晶硅放肩方法在审

专利信息
申请号: 201510985933.5 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN105483818A 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 王会敏;何京辉;曹祥瑞;颜超;陈二星;程志;周子江;刘钦 申请(专利权)人: 邢台晶龙电子材料有限公司
主分类号: C30B15/20 分类号: C30B15/20;C30B29/06
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 黄辉本
地址: 054001 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 m2 单晶硅 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及单晶硅生产技术领域,尤其涉及一种M2型单晶硅放肩方法。

背景技术

单晶硅的规格一般有两种:M1型(205mm)和M2型(210mm),单晶硅生产过程包括以下工序:拆炉-装料-熔化料-引细颈-放肩-转肩-等径-收尾-停炉。其中,放肩是当引细颈工艺完成后经过调整单晶炉加热功率及温效输出,降低温度与拉速,来控制放肩质量、速度、形状。放肩的形状和角度,将会影响晶棒头部的固液界面形状及晶棒品质。如果降温太快,液面呈现过冷情况,肩的形状因直径快速放大而变成方形,严重时易导致位错的产生而失去单晶的结构。M2型单晶硅棒的放肩工艺更难掌握,目前放肩工艺存在以下问题:

1、放肩时间长,耗时约3.5-4小时,肩高为80mm;耗时较长,且放肩高度过高浪费原料及影响单晶硅棒头部品质。

2、由于直径较大、降温不规范、出现降温后长方断棱、锥肩(放肩过高甚至达到5小时)等问题;

3、放肩的过程中由于温度把握不准确造成温度波动,会导致晶棒头部的空洞型缺陷,造成晶棒寿命降低,进而形成黑心圆和黑芯片。

4、放锥肩所需时间较长且影响单晶头部品质,会造成头部氧含量过高,氧的危害在于,氧可以形成热施主及新施主,使得单晶硅的电阻率均匀性变差;此外,氧还与直拉单晶硅中微缺陷的形成有着密切关系,而硅片表面的微缺陷在器件热氧化工艺中还会影响到器件的成品率。因此,在放肩过程中要求放平肩。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种有效缩短单晶硅棒放肩时间、提高单晶硅棒生产效率的M2型单晶硅放肩方法。

为解决上述技术问题,本发明所采取的技术方案是:

一种M2型单晶硅放肩方法,引细颈工艺完成后,温控器功率达到额定功率,籽晶拉速降至0.65-0.75mm/min,单晶炉加热功率分步逐降,包括以下步骤:

(一)温控器功率第一次降低额定功率的0.055‰,使炉内温度降温趋势稳定,进行第一次降温;

(二)温控器功率继续降低额定功率的0.11‰,使炉内温度逐步变低,进行第二次降温;

(三)温控器功率继续降低额定功率的0.11‰,通过电脑控制炉温自动递减降温,进行第三次降温;

(四)第三次降温后,肩部直径达到65mm,温控器功率继续降低0.055‰,进行第四次降温;

(五)第四次降温后,肩部直径达到110mm,温控器功率继续降低额定功率的0.11‰,1进行第五次降温;

(六)第五次降温后,肩部直径达到190mm,温控器功率继续降低额定功率的0.11‰,同时给定埚升0.100mm/min,进行第六次降温;

(七)待硅棒直径达规定尺寸210~214mm时可进入下一个工序转肩。

优选的,温控器的额定功率为40KW~45KW、且与80型单晶炉配套应用,籽晶拉速降至0.7mm/min,单晶炉加热功率分步逐降如下:

(一)温控器功率第一次降低0.25KW,持续时间为15min,使炉内温度降温趋势稳定,进行第一次降温;

(二)温控器功率继续降低0.5KW,持续时间为15min,使炉内温度逐步变低,进行第二次降温;

(三)温控器功率继续降低0.5KW,同时温控器功率输出递减量为-0.05~-0.075KW/分钟,持续时间为30min,通过电脑控制炉温自动递减降温,进行第三次降温;

(四)第三次降温后,肩部直径达到65mm,温控器功率继续降低0.25KW,温控器功率输出递减量为-0.075~-0.1KW/分钟,持续时间为30min,进行第四次降温;

(五)第四次降温后,肩部直径达到110mm,温控器功率继续降低0.25KW,持续时间为30min,进行第五次降温;

(六)第五次降温后,肩部直径达到190mm,温控器功率继续降低0.25KW,同时给定埚升0.100mm/min,温控器功率输出递减量为-0.075~-0.1KW/分钟,进行第六次降温;

(七)待硅棒直径达规定尺寸210~214mm时可进入下一个工序转肩。

优选的,所述温控器为英国欧陆EUROTHERM温控器3504。

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