[发明专利]一种连接端子的测试装置及测试方法

说明书

本发明涉及测试装置技术领域，公开了一种连接端子的测试装置，包括测试座，所述测试座设置有供测试端子插入的测试腔，所述测试座的旁侧设置有至少一组测试组件，所述测试组件设置有一条或以上的径向压变探针，所述测试腔设置有供所述径向压变探针穿过的定位孔，所述测试组件连接有第一驱动机构；由于本装置采用的是径向压变探针的结构，其主要是利用了径向压变探针的刚性产生进一步的压力，同时，也由刚性特性自行复原，使用寿命更长，结构更加简单；本发明还提供了一种端子测试装置的测试方法，在同等端子的测试条件下，本测试方法利用径向压变探针可以传输更大的电流，同时，所产生的接触压力更大，本测试方法能减少误测，测试更加准确。

技术领域

本发明涉及测试装置技术领域，尤其涉及一种连接端子的测试装置及测试方法。

背景技术

目前在端子生产制造过程中，为了对端子的电连接性能进行测试，一般都要使用测试装置进行测试，对于大尺寸的端子测试来说，目前具有较为成熟的测试装置；而对于小型连接端子的测试，例如：智能手机的充电端子来说，目前手机的结构设计都在大幅减小连接口的尺寸，所以，相应的端子也越来越小，对于IOS设备、Android设备或windows等智能设备来说，充电端子与数据传输端子均融为一体，现有的端子均具有越来越多的传输引脚，现有针对这些端子的测试主要采用治具与弹簧探针组合方式，但是，这种弹簧探针的定位精度较差，从而影响测试的准确性。又因为弹簧探针的接触应力小，在0.5MM压缩行程时，产生接触应力为20gf，当接触应力较小时，会导致接触不良，发生误测，同时，其使用寿命也存在较大的不足，有鉴于此，发明人针对目前存在的问题，作出了进一步的改进。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种连接端子的测试装置，本测试装置具有结构简单、定位精准和使用寿命长的优点；本发明还提供了一种端子测试装置的测试方法，利用本测试方法能减少误测，测试更加准确。

为实现上述目的，本发明的一种连接端子的测试装置，包括测试座，所述测试座设置有供测试端子插入的测试腔，所述测试座设置有至少一组测试组件，所述测试组件设置有一条或以上的径向压变探针，所述测试腔设置有供所述径向压变探针穿过的定位孔，所述测试组件连接有第一驱动机构；所述第一驱动机构用于驱动测试组件使径向压变探针与测试端子抵触，并且使径向压变探针发生径向形变。

进一步的，所述径向压变探针包括导针柱体，所述导针柱体表面具有绝缘涂层，所述导针柱体的前端延伸出绝缘涂层形成用于与测试端子接触的探针部。

进一步的，所述测试组件包括前模板、后模板和组装柱，所述组装柱的一端与前模板连接，所述组装柱的另一端与后模板连接，所述径向压变探针的后端与后模板连接固定，所述径向压变探针的前端穿过前模板并延伸至定位孔中，所述径向压变探针位于前模板与后模板之间的部分形成压变部。

作为优选，所述前模板设置定位块和供所述径向压变探针通过的凹位，所述径向压变探针依次穿过凹位和定位块并延伸至定位孔中。

作为优选，所述定位块设置有导向部，所述测试腔设置有供所述导向部插入的导向凹槽，所述定位孔位于导向凹槽内。

进一步的，所述测试座设置有导向柱，所述测试组件与导向柱活动连接。

进一步的，所述测试座设置有第一复位弹簧，所述第一复位弹簧抵接于测试座与测试组件之间。

进一步的，所述测试座设置有用于对测试端子的侧面进行定位的侧向定位机构，所述测试腔的侧面设置有侧位孔，所述侧向定位机构包括顶针、第二驱动机构和用于复位顶针的第二复位弹簧，所述第二驱动机构驱动顶针穿过侧位孔与测试端子抵接。

进一步的，所述定位孔的直径为0.2~0.3MM之间，且所述直径的公差为±0.01MM。