[发明专利]基于Nuttall窗四谱线插值FFT的谐波检测方法在审

专利信息
申请号: 201510988213.4 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN105353215A 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: 何怡刚;李志刚;李得民;项胜;尹柏强;佐磊;何威;童晋;李兵;袁莉芬 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 长沙星耀专利事务所 43205 代理人: 舒欣;宁星耀
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 基于 nuttall 窗四谱线插值 fft 谐波 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于Nuttall窗四谱线插值FFT的谐波检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)对时域信号进行离散采样,得到离散信号序列,选择4项3阶Nuttall窗对离散信号序列进行加窗处理,并进行快速傅里叶变换分析,获得各离散频点处的值;

(2)根据各离散频点处的值,在各峰值频率点谱线附近选取最大和次最大的两个频点值,根据最大和次最大的两个频点值,找到各峰值频率点谱线附近的最大和次最大幅值谱线,以及外围的两条谱线,获得四条谱线的幅值;

(3)根据四条谱线的幅值信息,推导出四谱线插值的幅值修正公式、频率修正公式和相位修正公式。

2.如权利要求1所述的基于Nuttall窗四谱线插值FFT的谐波检测方法,其特征在于:步骤(1)中,所述4项3阶Nuttall窗的时域表示为

wN(n)=Σm=0M-1(-1)mamcos(2πn·m/N);---(1)]]>

其中M为4项3阶Nuttall窗的项数,n=0,1,2,…,N-1;N为采样点数;am(m=0,1,2,3)为4项3阶Nuttall窗的各项系数,am满足条件Σm=0M-1am=1,Σm=0M-1(-1)mam=0;]]>

N>>1时,所述4项3阶Nuttall窗的频谱函数为

WN(w)=0.338946WR(w)-0.2409865[WR(w-2πN)+WR(w+2πN)]+0.080527[WR(w-4πN)+WR(w+4πN)]-0.0090135[WR(w-6πN)+WR(w+6πN)];---(2)]]>

其中WR(w)=sin(wN/2)sin(w/2)e-jN-12w,]]>为矩形窗频谱函数;

(2)式中,令可得

WN(2πNk)=0.338946WR(2πNk)-0.2409865[WR(2πNk-2πN)+WR(2πNk+2πN)]+0.080527[WR(2πNk-4πN)+WR(2πNk+4πN)]-0.0090135[WR(2πN-6πN)+WR(2πNk+6πN)].---(3)]]>

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