[发明专利]碱性铜粗抛液提高GLSI多层铜布线铜膜粗抛一致性的应用在审
申请号: | 201510990523.X | 申请日: | 2015-12-25 |
公开(公告)号: | CN105598826A | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 刘玉岭;王月霞;牛新环 | 申请(专利权)人: | 天津晶岭微电子材料有限公司 |
主分类号: | B24B37/04 | 分类号: | B24B37/04;C09G1/02 |
代理公司: | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人: | 杨红 |
地址: | 300130 天津市滨海新*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 碱性 铜粗抛液 提高 glsi 多层 布线 铜膜粗抛 一致性 应用 | ||
1.一种碱性铜粗抛液提高GLSI多层铜布线铜膜粗抛一致性的应用,主要由SiO2水溶胶 磨料、FA/OⅠ型表面活性剂、FA/OⅡ型螯合剂和双氧水组成碱性铜粗抛液,其特征是:所述碱 性铜粗抛液的FA/OⅠ型表面活性剂在GLSI多层铜布线CMP铜膜的高速率下提高粗抛高一致 性的应用。
2.根据权利要求1所述的碱性铜粗抛液提高GLSI多层铜布线铜膜粗抛一致性的应用, 其特征是:所述碱性铜粗抛液pH>7。
3.根据权利要求1或2所述的碱性铜粗抛液提高GLSI多层铜布线铜膜粗抛一致性的应 用,其特征是:所述碱性铜粗抛液主要组分按重量%计,
质量浓度2-60wt%以及粒径60-150nm的纳米SiO2水溶胶磨料0.5-50%
FA/OⅠ型非离子表面活性剂0.1-10%
FA/OⅡ型螯合剂0.5-5%
双氧水0.1-5%。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津晶岭微电子材料有限公司,未经天津晶岭微电子材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510990523.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。