[发明专利]PCB假负片结构及其生产方法有效
申请号: | 201510990922.6 | 申请日: | 2015-12-24 |
公开(公告)号: | CN105407647B | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 李泽清 | 申请(专利权)人: | 竞陆电子(昆山)有限公司 |
主分类号: | H05K3/06 | 分类号: | H05K3/06;H05K3/46 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德;周雅卿 |
地址: | 215300 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | pcb 负片 结构 及其 生产 方法 | ||
本发明公开了一种PCB假负片结构及其生产方法,改变了镀铜、塞孔和干膜等主要作业的流程,并且改变了铜层的结构,将镀铜分两次进行,并且控制一铜厚度为0.6mil,一铜后即进行负片干膜作业,然后再进行二铜使铜层的厚度达到要求后再进行树脂塞孔作业,这样干膜所覆盖的总铜厚降低至1mil,制成的PCB假负片由下至上依次由绝缘基板、底铜层、一铜层、二铜层和镀锡层构成,并且底铜层厚度为0.4mil,一铜层厚度为0.6mil,二铜层厚度为0.5mil,镀锡层厚度为0.25mil,使蚀铜总厚度降低至1mil,可有效降低蚀刻时蚀铜难度,降低蚀刻不净报废。
技术领域
本发明属于印刷电路板制造领域,具体涉及一种PCB假负片的生产方式及结构。
背景技术
PCB假负片生产时,原作业流程为:一铜(孔铜1.1mil)→树脂塞孔→树脂研磨-负片干膜→镀锡(镀锡0.2mil)→SES蚀刻。如图1所示,这种作业流程的弊端:一铜镀1.1mil厚后,加上之前底铜厚度为0.4mil,蚀刻时需要蚀铜的总铜厚度达到1.5mil(底铜铜厚0.4mil+一铜铜厚1.1mil),会导致SES蚀刻困难,造成蚀刻不净报废。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提供了一种PCB假负片结构及其生产方法,该PCB假负片结构及其生产方法改变了假负片的构成以及生产方法,可降低蚀刻蚀铜难度,降低蚀刻不净报废。
本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种PCB假负片结构,PCB假负片由下至上依次由绝缘基板、底铜层、一铜层、二铜层和镀锡层构成,PCB假负片具有若干导通孔,镀一铜层后进行负片干膜作业,再进行镀二铜层,所述导通孔的内壁由内向外依次具有一铜层和二铜层,所述导通孔内填塞满树脂,所述导通孔的顶端为镀锡层,所述底铜层的厚度为0.4mil,所述一铜层的厚度为0.6mil,所述二铜层的厚度为0.5mil,所述镀锡层的厚度为0.25mil。
进一步地说,所述绝缘基板为PP基板。
上述的PCB假负片结构的生产方法,按照下述步骤进行:
一、铜箔基板由绝缘基板以及覆盖于绝缘基板表面的底铜层构成,对铜箔基板进行钻孔;
二、对步骤一制得的钻孔后的铜箔基板进行第一次镀铜,使底铜层表面以及孔内壁形成厚度为0.6mil所述一铜层;
三、进行负片干膜作业;
四、进行第二次镀铜,使所述一铜层的表面形成厚度为0.5mil的所述二铜层;
五、进行树脂塞孔作业,使孔内填塞满树脂;
六、进行树脂研磨作业,将孔顶端树脂磨平;
七、进行镀锡,使二铜层表面以及孔顶端形成厚度为0.25mil的所述镀锡层;
八、去干膜后进行蚀刻。
本发明的有益效果是:本发明的PCB假负片结构及其生产方法主要是改变了镀铜、塞孔和干膜等主要作业的流程,并且改变了铜层的结构,将镀铜分两次进行,并且控制一铜厚度为0.6mil,一铜后即进行负片干膜作业,然后再进行二铜使铜层的厚度达到要求后再进行树脂塞孔作业,这样干膜所覆盖的总铜厚降低至1mil,可有效降低蚀刻时蚀铜难度,降低蚀刻不净报废。
附图说明
图1为现有技术的PCB假负片作业流程的材料层厚度示意图;
图2为本发明的PCB假负片材料层厚度示意图;
图3为本发明的PCB假负片结构示意图。
具体实施方式
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