[发明专利]物体特征信息的检测系统及其检测方法

说明书

本发明揭示一种物体特征信息的检测系统，用以量测检测体，检测系统包含：发射天线、接收天线以及处理模块。发射天线发出输出波束至检测体，以接收对应检测体的反射波束。接收天线接收输出波束。处理模块连接发射天线与接收天线，处理模块依据接收天线接收的输出波束以决定出信道容量、于时域上依据反射波束以统计计算出回馈系数、对应信道容量产生检测体的材质信息、对应回馈系数描绘外观轮廓、经由判断程序判断外观轮廓的特征信息。借此方便且准确得知检测体的材质信息以及特征信息，以提升检测的效率。

【技术领域】

本发明提供一种检测系统，尤其指一种物体特征信息的检测系统。

【背景技术】

坊间有多种方式可以量测物体的高度，例如通过落地式的量测仪器，仅需将物体放置在仪器上，通过计算由物体的底部的基准刻度到顶部的量测刻度，借此计算量测刻度与基准刻度之间的距离关系而能计算出物体的高度。

但是此量测高度的方式的精确度存在有一定的量测误差，意即若基准刻度或量测刻度不够精确实，其容易量测不准确，反之，若基准刻度或量测刻度皆够精细时，此量测仪器的成本也过高。再者，量测仪器仅能量测高度，若需额外的量测信息，则需要有对应的量测装置。有鉴于此，有必要提出解决方案以解决前述问题。

【发明内容】

于一实施例中，提供一种物体特征信息的检测方法，其包含：以发射天线发出输出波束至检测体。以接收天线接收输出波束，以决定出信道容量。以发射天线接收对应检测体的反射波束。根据反射波束于时域上统计出与回馈系数。对应信道容量产生检测体的材质信息。描绘对应回馈系数的外观轮廓。以判断程序依据外观轮廓计算出特征信息。

在另一实施例中，还提供一种物体特征信息的检测系统，用以量测检测体，检测系统包含：发射天线、接收天线以及处理模块。发射天线发出输出波束至检测体，以接收对应检测体的反射波束。接收天线接收输出波束。处理模块连接发射天线与接收天线，处理模块依据接收天线接收的输出波束以决定出信道容量、于时域上依据反射波束以统计计算出回馈系数、对应信道容量产生检测体的材质信息、对应回馈系数描绘外观轮廓，经由判断程序判断外观轮廓的特征信息。

依据上述的检测方法及其检测系统，利用反射波束而能统计计算回馈系数，以及依据输出波束而能得知其信道容量。借此方便且准确得知检测体的材质信息以及特征信息，以提升检测的效率。

【附图说明】

图1是本发明的检测系统一实施例的架构示意图。

图2是本发明的检测系统一实施例的使用示意图。

图3是本发明的检测系统一实施例的流程图。

图4是本发明的步骤S05的一详细流程图。

图5是本发明的检测系统的一实施例的又一架构示意图。

图6是本发明的步骤S06的一详细流程图。

图7是本发明的外观轮廓的示意图。

图8是本发明检测系统的另一实施例的使用示意图。

图9是本发明检测系统的另一实施例的另一使用示意图。

图10是本发明检测系统的另一实施例的流程图。

【具体实施方式】

图1是本发明的检测系统一实施例的架构示意图。图2是本发明的检测系统一实施例的使用示意图。请参阅图1及图2，检测系统用于量测检测体40，检测系统包含：发射天线10、接收天线20以及处理模块30。发射天线10与接收天线20相对设置，且检测体40位于发射天线10与接收天线20之间，处理模块30连接发射天线10与接收天线20。