[发明专利]偏心轴的激光检测装置和控制系统以及监控方法有效

专利信息
申请号: 201510992692.7 申请日: 2015-12-28
公开(公告)号: CN105522483A 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 孔向东;薛光明;陈海哨 申请(专利权)人: 温州大学瓯江学院;浙江恒丰泰减速机制造有限公司
主分类号: B24B49/12 分类号: B24B49/12
代理公司: 温州金瓯专利事务所(普通合伙) 33237 代理人: 林岩龙
地址: 325027 浙江省温州市瓯*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 偏心 激光 检测 装置 控制系统 以及 监控 方法
【权利要求书】:

1.一种偏心轴的激光检测装置,安装在加工机床上,其特征在于:其包括安装底座(1)、支架(2)、调节机构和面向安装底座(1)的激光测距机构,所述调节机构包括第一调节组件和第二调节组件;安装底座(1)通过所述第一调节组件固定在加工机床上,支架(2)垂直固定在安装底座(1)的上端面,激光测距机构面向安装底座(1),并通过第二调节组件与支架(2)上端面连接,所述第二调节组件调节激光测距机构垂直于主轴方向的位移。

2.根据权利要求1所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:所述激光测距机构包括激光位移传感器(41)和容纳壳(42),在容纳壳(42)面向安装底座(1)的该面上开设通槽(43),所述激光位移传感器(41)置于容纳壳(42)内,并与通槽(43)相对齐。

3.根据权利要求2所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:设有带透光孔(51)的保护罩(5),所述保护罩(5)可滑移地设置在容纳壳(42)上设有通槽(43)的该侧,所述保护罩(5)通过滑移,具有透光孔(51)与通槽(43)相通的第一状态,和保护罩(5)遮盖住通槽(43)的第二状态。

4.根据权利要求3所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:所述保护罩(5)上还设有用于高压气体通过的透气孔(52),所述透气孔(52)平行设置在透光孔(51)边上。

5.根据权利要求4所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:设有第一电磁阀(53),所述第一电磁阀(53)控制高压气体进入容纳壳(42)内,并由透气孔(52)中喷出。

6.根据权利要求1所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:所述第二调节组件包括垂直调节组件,所述垂直调节组件包括第二滑台(31)和设置在容纳壳(42)的底部的滑轨,所述第二滑台(31)和所述滑轨构成滑移配合,二者的滑移方向垂直于安装底座(1),同时垂直于主轴的滑移配合。

7.根据权利要求6所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:所述第二调节组件包括水平调节组件,所述水平调节组件包括第一滑台(21)和第一滑块(22),所述第一滑台(21)和第一滑块(22)构成滑移配合,二者的滑移方向平行于安装底座(1),同时垂直于主轴的,所述第一滑台(21)设置在支架(2)上端面,所述第一滑块(22)连接第一滑台(21)和第二滑台(31)。

8.根据权利要求7所述的偏心轴的激光检测装置,其特征在于:所述水平调节组件还包括第二电磁阀(23),所述第二电磁阀(23)电连接第一滑块(22)。

9.一种偏心轴的激光检测控制系统,其特征在于:其包括依次连接的激光测距装置、AD采集模块、主控制器、通讯模块、PC监控上位机;所述激光测距装置,用于检测待加工工件表面位置信号;所述AD采集模块,将位置信号传输到主控制器中;所述主控制器,分析处理位置信号,并计算得到待加工工件的偏心距,以进行实际位移量之间差值的绝对值与许用值的比较,通过通讯模块将比较结果传输到PC监控上位机;所述PC监控上位机,用于发送指令到主控制器,并显示主控制器输出的结果。

10.一种偏心轴的激光检测的监控方法,其特征在于,其步骤为:

S1:将激光检测装置和待加工成偏心的阶梯轴安装在外圆磨床上,经调节后,使得激光位移传感器(41)在测量量程范围内,且正对磨床主轴中心线位置;

S2:将激光位移传感器(41)位移至待加工成偏心的阶梯轴的待测位置,旋转待加工成偏心的阶梯轴至少一周,用激光位移传感器(41)采集待测位置的实际位移量,并将每两个实际位移量之间差值的绝对值与许用值进行判断,若绝对值小于许用值,则待待加工成偏心的阶梯轴质量合格且安装位置正确,否则,再次调节待加工成偏心的阶梯轴的位置;

S3:用激光位移传感器(41)调节磨床上的镗头偏心量;

S4:在磨床不停机在线测量偏心量加工过程时,激光位移传感器(41)实时测量待测位置的实际位移量,并通过实际位移量的比对分析,以调节偏心轴在磨削位与砂轮对偏心轴的径向力方向相反的微小偏移量,控制加工过程中磨床上的砂轮对偏心轴的径向力的影响,对磨削力造成的加工误差补偿;

S5:在磨床加工偏心轴完毕停机后,处理偏心轴上的磨削液,再测量偏心轴旋转至少一周的实际位移量,并对实际位移量的进行比对分析。

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