[发明专利]一种基于DIC的触摸定位方法及系统

说明书

本发明公开了一种基于DIC的触摸定位方法及系统，该系统包括光束发射单元、摄像单元及处理器。该方法包括：发射光束至触摸膜的表面上；获取触摸膜变形前后的散斑图；根据获取到的触摸膜变形前后的散斑图，采用数字图像相关法来计算出触摸点坐标。通过使用本发明能大大减少触摸膜的制作难度，而且还具有易于实现、便于操作使用等优点。本发明作为一种基于DIC的触摸定位方法及系统可广泛应用于触摸膜的触摸定位领域中。

技术领域

本发明涉及触摸坐标定位技术，尤其涉及一种基于DIC的触摸膜的触摸定位方法及系统。

背景技术

技术词解释：

DIC：数字图像相关。

触摸膜，又称触控膜、纳米触控膜、纳米触摸膜，是一种透明的薄膜，能够隔着基板精确感知人手的触控，是触控屏等精确定位装置的核心部件，主要解决精确触控定位问题。通常，所述的触摸膜主要由PET薄膜、纳米导线、控制电路板和驱动软件组成，而在触摸膜的制作过程中，则需要将X轴的纳米导线和Y轴的纳米导线按照一定的规律封装在PET薄膜内，从而构成感应矩阵，这样才能感知不同方位的触控动作。然而，对于将X轴的纳米导线和Y轴的纳米导线按照一定的规律封装在PET薄膜内这一制作步骤，其对制作工艺的要求非常高，因此，目前触摸膜的制作具有难度大、不便于实现等缺点。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种基于DIC的触摸定位方法。

本发明的另一目的是提供一种基于DIC的触摸定位系统。

本发明所采用的技术方案是：一种基于DIC的触摸定位方法，包括：

发射光束至触摸膜的表面上；

获取触摸膜变形前后的散斑图；

根据获取到的触摸膜变形前后的散斑图，采用数字图像相关法来计算出触摸点坐标。

进一步，所述根据获取到的触摸膜变形前后的散斑图，采用数字图像相关法来计算出触摸点坐标这一步骤，其包括：

根据定义的相关判据，将触摸膜变形前的散斑图中的每个子区与触摸膜变形后的散斑图中的每个子区进行比较判断，从而得到多个相关系数最大值；

根据所述的多个相关系数最大值，计算每个子区的像素位移量；

根据所述每个子区的像素位移量，计算每个子区的应变值；

对每个子区的应变值进行排序，从而求得最大应变值。

进一步，所述定义的相关判据，其具体表达式为：

其中，f(x_i,y_j)表示为触摸膜变形前的散斑图子区中任一点的灰度值，g(x_i',y'_j)表示为触摸膜变形后的散斑图子区中任一点的灰度值，和分别表示为触摸膜变形前的散斑图中子区的平均灰度值以及触摸膜变形后的散斑图中子区的平均灰度值。

进一步，所述根据定义的相关判据，将触摸膜变形前的散斑图中的每个子区与触摸膜变形后的散斑图中的每个子区进行比较判断，从而得到多个相关系数最大值这一步骤，其具体为：

根据定义的相关判据，将触摸膜变形前的散斑图中的一子区与触摸膜变形后的散斑图中的每个子区进行比较判断，从而得到相应的相关系数最大值。

进一步，所述根据所述的多个相关系数最大值，计算每个子区的像素位移量这一步骤，其具体为：