[发明专利]一种光模块性能参数调试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块性能参数调试方法及系统。

背景技术

光模块的性能参数(比如光功率、消光比等)的基本调试方法是，设定一个初值到光模块内对应影响该性能参数的寄存器中，然后通过外部仪器读取光模块工作时该性能参数的值，如此反复直到通过外部仪器读取到的该性能参数的值满足SPEC需求，即光模块设计要求的数值或数值范围，即完成该新能参数的调试。

目前的光模块性能参数的调试方法大致有步进法和二分法，具体介绍如下：

步进法：设定一个初值，一个步进长度值，一个越界值。在开始调试的时候将初值(X)写入光模块，然后通过仪器读取对应调试的性能参数值，如果值不满足SPEC，那么X＝X+步长值(S)，再将X写入光模块，再通过仪器读取，以此反复，直到性能参数满足SPEC或X>＝越界值，停止调试。

二分法：设定一个最小值MIN、一个最大值MAX、最大二分次数。在开始调试的时候将初值X＝(MIN+MAX)/2写入光模块，然后通过仪器读取对应调试的性能参数值Y，如果Y值不满足SPEC，通过二分计算，如果参数是单调增，那么Y大于SPEC，则(X1＝(X+MIN)/2，再将X1写入模块，读取Y，如果Y小于SPEC则X1＝(X+MAX)/2。第三次分，边界则变成了X和X1，以此再分，通过仪器读取，以此反复，直到性能参数满足SPEC或无法进行二分或大于最大二分次数，停止调试。

发明人研究发现，在光模块生产过程中，同一批次(即物料号相同)的多个光模块的内部器件性能是满足正态分布规律的，由于光模块内的器件性能满足正态分布，那么光模块满足SPEC的性能参数对应的调试寄存器的设定值也是满足正态分布的，在这种情况下，当进行同一物料号的多个光模块的性能参数调试时，若依然采用上述方法会导致调试时间增加，降低光模块生产效率。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种光模块性能参数调试方法及系统，旨在节约光模块调试时间，提高光模块生产效率。

为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案是：

一种光模块性能参数调试方法，包括如下步骤：

S1、在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

S2、当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

S3、当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，该方法还包括：如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调；将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，所述预定阈值不小于50。

优选的，所述步骤S2中将该组内的所有设定值统计计算出一个设定值，具体为：确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。

优选的，至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。

本发明实施例还提供一种光模块性能参数调试系统，包括：

参数分组单元，用于在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

设定值计算单元，用于当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

判断调试单元，用于当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。