[发明专利]一种新型晶硅太阳能电池测试分档的方法有效
申请号: | 201510997544.4 | 申请日: | 2015-12-28 |
公开(公告)号: | CN105609442B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 方再华;杨艳景 | 申请(专利权)人: | 保定光为绿色能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人: | 王文庆 |
地址: | 074000 河北省保*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 太阳能电池 测试 分档 方法 | ||
一种新型晶硅太阳能电池测试分档的方法,优先使用工作电流处分档,然后再将同一工作电流档的电池片通过电池效率进行再分档的方法,且在对电池片分当时针对不同情况设定灵活的分档区间,根据不同批电池片的参数状况不同使用不同的分档区间,大大降低了最大工作电流与最小工作电流差,集中离散度,实现整个组件单元电池片工作电流的匹配,在降低整个组件的封装损失的同时,组件El测试的明暗片现象也得到了相应改善,提高了电池到组件的产出和组件制造的一次成品率。
技术领域
本发明属于晶硅太阳能电池制作领域,特别涉及一种新型晶硅太阳能电池测试分档的方法。
背景技术
目前太阳能电池片的制作过程中首先要进行测试分选,测试分选的目的是为了降低单元电池片的工作电流差,而目前普遍采用的测试分档方法为:优先使用电池效率进行粗分档,然后再将同一电池效率档的电池片通过工作电流进行细分档,组件封装时使用同一效率档的电池片(60-72片)进行串联封装;这种分档方法,会导致同一电池效率档的单元电池片工作的电流差的离散度较大,甚至会出现最大工作流与最小工作电流差大于0.1A,工作作电流差值存在大于0.2A的情况,超出范围外的电池片不能被利用,降低了电池片的利用率,即便是符合0.1A的工作电流差值的电池片仍然不能保证电池片各参数匹配的问题,单个效率档的组件封损差异较大,使组件封装时单元电池片之间会出现工作电流不匹配,影响电池效率,整个组件功率损失较高的问题。
发明内容
为解决上述所提及的现有技术中的测试分选方法会造成电池电流差过大电池封装后匹配度较低的问题,而提出了一种优化后的一种新型晶硅太阳能电池测试分档的方法
提供的技术方案为:
1、一种新型晶硅太阳能电池测试分档的方法,包括工作电流分档和电池效率分档,其特征在于包括以下步骤:
S:优先进行工作电流初分档:
上述步骤S的具体过程为,
S1:对待测的电池片组中的各个电池片进行工作电流测试,得到每个电池片的工作电流值;
S2:设定待测电池片组所需的电流值区间;
S3:按照设定梯度,将电流值区间分段,得到多个子电流值区间N;
S4:根据步骤S1得到的每个电池片的工作电流值并按照各个子电流值区间对电池片进行分档,凡工作电流值同归属于同一子电流值区间的电池片被归入同一档位内,得到多个一级档位;
D:工作电流值分档完毕后,再进行电池效率值分档:
上述步骤D的具体过程为,
D1:对每个一级档位内的电池片的电池效率值进行测定,得到每个一级档位内的电池片的电池效率值;
D2:根据步骤D1得到的同一个一级档位内的每个电池片的电池效率值,为每个一级档位设定该一级档位所需的电池效率值区间;
D3:按照设定梯度将每个一级档位的电池效率值区间分段,得到该一级档位的多个子电池效率值区间M;
D4:按照步骤D3得到的与该一级档位相对应的多个子电池效率值区间M对该一级档位内的每个电池片进行分档,得到该一级档位内的多个二级档位;
完成对晶硅太阳能电池测试的分档。
进一步的,所述的步骤S3中取一个或多个自然数作为区间极差,根据极差大小将电流区间分段,得到子电流区间N。。
进一步的,所述的步骤D3中取一个或多个自然数作为区间极差,根据极差大小将每个电池效率区间分段,分段完毕后每个电池效率区间被分割为多个子电池效率区间M。
进一步的,所述步骤S3中子电流区间N的极差的取值范围为[0,1]。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造