[发明专利]数据库性能测试方法与装置

权利要求书

1.一种数据库性能测试方法，包括：

依据配置参数创建并发线程并构建测试环境；其中，所述配置参数，包括：测试时间；

通过所述并发线程向所述测试环境并行发送访问请求，以对数据库性能进行测试；

当对数据库性能测试的时间满足所述配置参数中设置的测试时间时，对所述测试时间内每次输出的测试样本数据进行分析，得到所述数据库性能测试结果；其中，当所述测试样本数据包括：访问请求失败率，所述对所述测试时间内每次输出的测试样本数据进行分析，得到所述数据库性能测试结果，包括：计算所述测试时间内输出的各访问请求失败率的平均值；判断所述平均值是否小于预设设定值；若小于，则确定所述数据库性能符合标准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述配置参数包括：并发线程数量、集合数量和文档记录数中的至少一种；

所述依据所述配置参数创建测试并发线程并构建测试环境的步骤包括：

创建与所述并发线程数量相同数量的并发线程；和/或

创建与所述集合数量相同的数量的集合；和/或

创建所述文档记录数相同数量的文档记录，并将创建的文档记录平均存储至各集合中，以构建所述测试环境。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述配置参数包括：测试结果输出频率，所述方法还包括：

监测测试结果输出时间间隔内的并发访问请求；

对监测到的各访问请求结果进行统计得到测试样本数据；

输出所述测试样本数据、以及用于指示当前输出时间的时间戳。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述测试样本数据包括：每秒平均查询率和/或系统平均吞吐量，则所述对所述测试时间内每次输出的测试样本数据进行分析，得到所述数据库性能测试结果的步骤进一步包括：

构建每秒平均查询率随时间变化的第一曲线和/或系统平均吞吐量随时间变化的第二曲线；

判断所述第一曲线的最大峰值与最小峰值之差是否小于第一设定值、以及所述第一曲线的最小峰值是否大于第二设定值，和/或，判断所述第二曲线的最大峰值与最小峰值之差是否小于第三设定值且所述第二曲线的最小峰值是否大于第四设定值；

在所述第一曲线的最大峰值与最小峰值之差小于第一设定值且所述第一曲线的最小峰值大于第二设定值，和/或，所述第二曲线的最大峰值与最小峰值之差小于第三设定值且所述第二曲线的最小峰值大于第四设定值时，确定所述数据库性能符合标准。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述测试样本数据还包括：访问请求失败率，所述对所述测试时间内每次输出的测试样本数据进行分析，得到所述数据库性能测试结果的步骤，进一步包括：

构建每次输出的访问请求失败率随时间变化的第三曲线；

判断所述第三曲线的最大峰值与最小峰值之差是否小于第六设定值、以及所述第三曲线的最大峰值是否小于第七设定值；

若均小于，则确定所述数据库性能符合标准。

6.根据权利要求1至5中任一所述的方法，其特征在于，所述并行发送的访问请求包括如下请求中的至少一种：删除文档记录请求、更新文档记录请求、插入文档记录请求以及查询文档记录请求。

7.一种数据库性能测试装置，包括：

创建模块，用于依据配置参数创建并发线程并构建测试环境；其中，所述配置参数，包括：测试时间；

发送模块，用于通过所述并发线程向所述测试环境并行发送访问请求，以对数据库性能进行测试；

结果确定模块，用于当对数据库性能测试的时间满足所述配置参数中设置的测试时间时，对所述测试时间内每次输出的测试样本数据进行分析，得到所述数据库性能测试结果；其中，当所述测试样本数据包括：访问请求失败率；所述结果确定模块具体用于：计算所述测试时间内输出的各访问请求失败率的平均值；判断所述平均值是否小于预设设定值；若小于，则确定所述数据库性能符合标准。