[发明专利]一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置

权利要求书

1.一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法，其特征在于：是利用金属件的导电性，通过金属件与检测金属浮动触头、指示灯、电源及检测平台之间能否构成电路回路使指示灯点亮进行直观判断是否存在尺寸缺陷，所述尺寸缺陷包括平面度缺陷和槽/孔高度尺寸缺陷。

2.一种快速筛检金属件尺寸缺陷的装置，其特征在于：包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干平面度检测金属浮动触头和若干高度检测金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干单色指示灯和若干双色指示灯；所述平面度检测金属浮动触头和高度检测金属浮动触头均绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，且在其位于导电金属平台下方的部位上均套设有弹簧，所述弹簧的底端均与设在底座表面上的导电金属片相抵触；其中，在位于所述高度检测金属浮动触头正下方的导电金属片上开设有穿孔，在所述底座上开设有与所述穿孔相连通的螺孔，在所述螺孔内设有限位金属触头，所述高度检测金属浮动触头能穿过穿孔与限位金属触头相抵触；并且，位于平面度检测金属浮动触头正下方的导电金属片通过金属导线分别与一个单色指示灯电连接，位于同一个高度检测金属浮动触头正下方的导电金属片和限位金属触头分别通过金属导线与同一个双色指示灯电连接，所述单色指示灯和双色指示灯均通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于：在自然状态下，所述平面度检测金属浮动触头的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，所述平面度检测金属浮动触头的下端距离导电金属片的间距值为待检金属件平面度的最大允许误差值。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于：在自然状态下，所述高度检测金属浮动触头的最高点位于待检金属件待测点高度的上限位置，所述高度检测金属浮动触头的下端距离限位金属触头顶端的间距值为待检金属件待测点高度的最大允许上限误差值与最大允许下限误差值之和。

5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于：所述平面度检测金属浮动触头和高度检测金属浮动触头均包括上部、中部和下部，且位于上部与下部之间的中部形成凸台。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于：在所述上部与导电金属平台的接触面间设有绝缘套，在所述中部与导电金属平台的接触面间设有绝缘垫。

7.根据权利要求2所述的装置，其特征在于：所述限位金属触头通过螺纹连接设置在所述螺孔内。

8.根据权利要求2所述的装置，其特征在于：所述单色指示灯和双色指示灯均为LED灯。