[发明专利]一种机器视觉检测物体表面微变形的成像装置及其方法在审
申请号: | 201511005183.7 | 申请日: | 2015-12-25 |
公开(公告)号: | CN105627942A | 公开(公告)日: | 2016-06-01 |
发明(设计)人: | 文生平;刘云明 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 罗观祥 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 机器 视觉 检测 物体 表面 变形 成像 装置 及其 方法 | ||
1.一种机器视觉检测物体表面微变形的成像装置,其特征在于包括:
显示器(1)、摄像机(2)和计算机(3);显示器(1)用于调制产生正弦相 移的光栅条纹光(5);摄像机(2)和显示器(1)设置在被检测物体(4)表 面的上方;使显示器(1)的光栅条纹光(5)照射至该被检测物体(4)的 整个上表面,并在被检测物体(4)的整个上表面形成条纹图像,摄像机(2) 用于采集被检测物体(4)表面上反射的条纹图像,并将其传递给计算机(3) 的图像分析系统。
2.根据权利要求1所述机器视觉检测物体表面微变形的成像装置,其特 征在于,所述摄像机(2)、显示器(1)呈V字型安装在被检测物体(4)的 上方。
3.根据权利要求1所述机器视觉检测物体表面微变形的成像装置,其特 征在于,所述显示器(1)为液晶显示显示器。
4.根据权利要求1所述机器视觉检测物体表面微变形的成像装置,其特 征在于,所述摄像机(2)为工业相机。
5.根据权利要求1至4中任一项所述机器视觉检测物体表面微变形的成 像装置,其特征在于,当被检测物体(4)表面有凸起或者凹陷时会造成光线 反射率的改变及偏折,使光栅条纹局部扭曲变形,该扭曲变形的部位即是该 被检测物体(4)表面的微变形。
6.一种机器视觉检测物体表面微变形的方法,其特征在于采用权利要求 1至5中任一项所述机器视觉检测物体表面微变形的成像装置实现,具体步骤 如为:由计算机(3)的图像分析系统,根据相移解调的方法,对条纹图像进 行分析,通过获取相位信息的变化,得到被检测物体(4)光滑表面的梯度分 布,即得到被检测物体(4)表面高度信息的改变,从而获取被检测物体(4) 表面微变形缺陷信息,条纹图像获取相位信息的具体方法如下:
通过计算机(3)的图像分析系统,采用相移法进行相位提取,相移法在 一个周期内需要将相位不同的多幅光栅条纹光投影到被测物体表面,通过对 采集到的一组条纹图像进行相位处理来获得相位值;
设光栅条纹光(5)对被检测物体(4)投射了光栅条纹图像的数量为N, 则在一个投影周期内,连续投影的两幅光栅条纹图像的相位差就是2π/N,若 第n幅光栅条纹图像上每个点的光照强度用In来表示,则有公式如下:
在上式中,a(x,y)代表背景的光栅条纹光(5)的光照强度强,而b(x,y)则 为被检测物体(4)的表面对外界光线的反射率,φ(x,y)为摄像机(2)拍摄到 的包含相位改变的光栅的相位;在光照强度的大小已经确定的情况下,需要 对三个大小未知的参数进行求解,所以,若要求相位值φ(x,y),至少需要三张 光栅条纹图像的相位信息,即N需要至少等于3,即可获得方程组,对它求 解可得到:
由于光栅条纹图像的相位可直接进行测量,即初始相位值φ0(x,y)已知, 被检测物体(4)表面上所有被测点的相位值φ(x,y)可由上式求出,进一步即 可计算出被检测物体(4)引起的相位变化为:
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