[发明专利]一种利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法在审
申请号: | 201511008507.2 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN105448707A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 陈诺夫;杨博;牟潇野;阮绍林;阮正亚 | 申请(专利权)人: | 常州英诺能源技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/3205 | 分类号: | H01L21/3205 |
代理公司: | 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 | 代理人: | 李静 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 陶瓷 衬底 制备 多晶 薄膜 方法 | ||
1.一种利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:
首先,选取陶瓷板,以陶瓷板为衬底,所述陶瓷板衬底的尺寸范围为50×50mm2-200×200mm2,所述陶瓷板衬底厚度为0.1mm-2mm;
其次,以高纯度石墨粉为原料,采用热压工艺,以陶瓷衬底为基板,压制得到石墨薄膜,所述高纯度石墨粉的纯度大于99.9%;
再次,以压附有石墨薄膜的陶瓷板为基板,采用磁控溅射法在石墨薄膜表面沉积多晶硅薄膜籽晶层;
然后,采用化学气相沉积技术在多晶硅籽晶层上沉积多晶硅薄膜;
最后,采用退火方法将多晶硅薄膜与陶瓷衬底进行分离,制得多晶硅薄膜。
2.根据权利要求1所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述陶瓷衬底为Al2O3陶瓷衬底,所述Al2O3陶瓷衬底的纯度大于95%。
3.根据权利要求2所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述石墨薄膜厚度10μm-1000μm。
4.根据权利要求3所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述多晶硅薄膜厚度为20μm-100μm。
5.根据权利要求4所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述退火方法如下:将完成多晶硅薄膜沉积的陶瓷板置于氮气环境下,对其进行加热,加热温度为800-1000℃,停止加热,冷却至室温。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造