[发明专利]一种利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201511008507.2 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN105448707A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 陈诺夫;杨博;牟潇野;阮绍林;阮正亚 申请(专利权)人: 常州英诺能源技术有限公司
主分类号: H01L21/3205 分类号: H01L21/3205
代理公司: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 代理人: 李静
地址: 213000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 陶瓷 衬底 制备 多晶 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:

首先,选取陶瓷板,以陶瓷板为衬底,所述陶瓷板衬底的尺寸范围为50×50mm2-200×200mm2,所述陶瓷板衬底厚度为0.1mm-2mm;

其次,以高纯度石墨粉为原料,采用热压工艺,以陶瓷衬底为基板,压制得到石墨薄膜,所述高纯度石墨粉的纯度大于99.9%;

再次,以压附有石墨薄膜的陶瓷板为基板,采用磁控溅射法在石墨薄膜表面沉积多晶硅薄膜籽晶层;

然后,采用化学气相沉积技术在多晶硅籽晶层上沉积多晶硅薄膜;

最后,采用退火方法将多晶硅薄膜与陶瓷衬底进行分离,制得多晶硅薄膜。

2.根据权利要求1所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述陶瓷衬底为Al2O3陶瓷衬底,所述Al2O3陶瓷衬底的纯度大于95%。

3.根据权利要求2所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述石墨薄膜厚度10μm-1000μm。

4.根据权利要求3所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述多晶硅薄膜厚度为20μm-100μm。

5.根据权利要求4所述的利用陶瓷衬底制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述退火方法如下:将完成多晶硅薄膜沉积的陶瓷板置于氮气环境下,对其进行加热,加热温度为800-1000℃,停止加热,冷却至室温。

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