[发明专利]一种用于芯片随机验证的分批随机机制

权利要求书

1.一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：将单次随机验证分成若干批验证串行执行，每批验证包含若干数目的激励，并在不同批次的验证之间提供对目前随机验证的效率评估和控制机制，使得随机约束和对应的随机激励规模可以根据验证效率的变化而获得修改。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：所述随即机制实现过程如下：

1）对随机激励的生成约束进行量化，保证能通过程序或者脚本自动完成对随机约束的修改；

2）随机激励分批生成；每次只根据当前的随机约束生成一部分激励；

3）在验证环境中包含监测每批随机激励是否全部完成的功能；保证不同批次的随机激励得到的验证效率评估彼此独立；

4）确定一套明确的、可量化的评价随机验证效率的评价标准；

5）在一批激励完成之后到下一批激励生成之前，提供一套根据随机验证效率评估来修改随机约束和随机激励规模的机制。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：所述验证效率的评价标准：通过定义的覆盖率来进行评估。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：对不同的功能点或者模块的覆盖率数据进行不同的权重运算。

5.根据权利要求3或4所述的一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：每批激励开始前对验证效率数据进行记录，以作为该批激励完成之后验证效率的对比。

6.根据权利要求2所述的一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：所述修改随机约束的机制，是通过验证人员对验证效率数据的分析，对随机约束和随机激励规模进行手动修改，并通过输入文件的方式让验证环境读入。

7.根据权利要求2所述的一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：所述修改随机约束的机制，是通过算法让验证环境自动进行修改。