[发明专利]一种磁共振系统的一阶匀场方法、装置及设备有效
申请号: | 201511017861.1 | 申请日: | 2015-12-29 |
公开(公告)号: | CN105662412B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 陈操;郭红宇;胡红兵;邱少坤 | 申请(专利权)人: | 东软医疗系统股份有限公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 110167 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁共振 系统 一阶 方法 装置 设备 | ||
1.一种基于磁共振系统的一阶匀场方法,其特征在于,包括:
按照设定参数对选定对象进行磁共振扫描,获取不同回波时间TE的相位图 像和幅度图像;
计算所述不同TE的相位图像之差,得到相位差图像;
将每个TE的幅度图像分割成多个图像分割区域;
从所述每个TE的幅度图像分割成的所述多个图像分割区域中确定高灰度 分割区域;
在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位数据;
对所述相位数据进行解卷拟合处理,得到一阶匀场参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
对所述每个TE的幅度图像分别进行平滑滤波,获得与每个TE的幅度图像 对应的平滑图像;
所述将所述每个TE的幅度图像分别分割成多个图像分割区域,包括:将所 述每个TE对应的平滑图像分别分割成多个图像分割区域。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,还包括:
确定所述每个TE对应的所述高灰度分割区域中的最大连通区域;
选择所述不同TE对所述每个TE的幅度图像分别进行平滑滤波,获得与每 个TE的幅度图像对应的平滑图像;
对应的最大连通区域的重叠区域作为匀场参数的计算区域;
所述在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位数据,包括:
在所述相位差图像中选择所述计算区域的相位数据。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述每个TE的幅度 图像分割成多个图像分割区域,包括:
采用多相水平集的分割方式将所述每个TE的幅度图像分割成多个不同灰 度水平的图像分割区域。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述相位数据进行解 卷拟合处理,得到一阶匀场参数,包括:
对所述相位数据进行解卷,得到解卷后的相位图;
利用所述最小二乘法对所述相位图进行估算,得到估算的一阶匀场参数。
6.一种基于磁共振系统的一阶匀场装置,其特征在于,包括:
扫描单元,用于按照设定参数对选定对象进行磁共振扫描,获取不同回波 时间TE的相位图像和幅度图像;
计算单元,用于计算所述不同TE的相位图像之差,得到相位差图像;
分割单元,用于将每个TE的幅度图像分割成多个图像分割区域;
第一确定单元,用于从所述每个TE的幅度图像分割成的所述多个图像分割 区域中确定高灰度分割区域;
第一选择单元,用于在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位 数据;
解卷拟合单元,用于对所述相位数据进行解卷拟合处理,得到一阶匀场参 数。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:
过滤单元,用于对所述扫描单元扫描得到的所述每个TE的幅度图像分别进 行平滑滤波,获得与每个TE的幅度图像对应的平滑图像;
所述分割单元,还用于将每个TE对应的平滑图像分别分割成多个图像分割 区域。
8.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,还包括:
第二确定单元,用于在所述第一确定单元确定所述每个TE对应的所述信噪 比高的图像分割区域中的最大连通区域;
第二选择单元,用于选择所述不同TE对应的最大连通区域的重叠区域作为 匀场参数的计算区域;
所述第一选择单元,还用于在所述相位差图像中选择所述计算区域的相位 数据。
9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述分割单元,具体用于采 用多相水平集的分割方式将所述每个TE的幅度图像分别分割成多个不同灰度 水平的图像分割区域。
10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述解卷拟合单元包括:
解卷单元,用于对所述相位数据进行解卷,得到解卷后的相位图;
估算单元,用于利用所述最小二乘法对所述相位图进行估算,得到估算的 一阶匀场参数。
11.一种医疗设备,其特征在于,包括:
处理器,以及用于存储所述处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:
按照设定参数对选定对象进行磁共振扫描,获取不同回波时间TE的相位图 像和幅度图像;
计算所述不同TE的相位图像之差,得到相位差图像;
将每个TE的幅度图像分割成多个图像分割区域;
从所述每个TE的幅度图像分割成的所述多个图像分割区域中确定高灰度 分割区域;
在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位数据;
对所述相位数据进行解卷拟合处理,得到一阶匀场参数。
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