[发明专利]一种磁共振系统的一阶匀场方法、装置及设备有效

专利信息
申请号: 201511017861.1 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN105662412B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 陈操;郭红宇;胡红兵;邱少坤 申请(专利权)人: 东软医疗系统股份有限公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 110167 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁共振 系统 一阶 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种基于磁共振系统的一阶匀场方法,其特征在于,包括:

按照设定参数对选定对象进行磁共振扫描,获取不同回波时间TE的相位图 像和幅度图像;

计算所述不同TE的相位图像之差,得到相位差图像;

将每个TE的幅度图像分割成多个图像分割区域;

从所述每个TE的幅度图像分割成的所述多个图像分割区域中确定高灰度 分割区域;

在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位数据;

对所述相位数据进行解卷拟合处理,得到一阶匀场参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

对所述每个TE的幅度图像分别进行平滑滤波,获得与每个TE的幅度图像 对应的平滑图像;

所述将所述每个TE的幅度图像分别分割成多个图像分割区域,包括:将所 述每个TE对应的平滑图像分别分割成多个图像分割区域。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,还包括:

确定所述每个TE对应的所述高灰度分割区域中的最大连通区域;

选择所述不同TE对所述每个TE的幅度图像分别进行平滑滤波,获得与每 个TE的幅度图像对应的平滑图像;

对应的最大连通区域的重叠区域作为匀场参数的计算区域;

所述在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位数据,包括:

在所述相位差图像中选择所述计算区域的相位数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述每个TE的幅度 图像分割成多个图像分割区域,包括:

采用多相水平集的分割方式将所述每个TE的幅度图像分割成多个不同灰 度水平的图像分割区域。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述相位数据进行解 卷拟合处理,得到一阶匀场参数,包括:

对所述相位数据进行解卷,得到解卷后的相位图;

利用所述最小二乘法对所述相位图进行估算,得到估算的一阶匀场参数。

6.一种基于磁共振系统的一阶匀场装置,其特征在于,包括:

扫描单元,用于按照设定参数对选定对象进行磁共振扫描,获取不同回波 时间TE的相位图像和幅度图像;

计算单元,用于计算所述不同TE的相位图像之差,得到相位差图像;

分割单元,用于将每个TE的幅度图像分割成多个图像分割区域;

第一确定单元,用于从所述每个TE的幅度图像分割成的所述多个图像分割 区域中确定高灰度分割区域;

第一选择单元,用于在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位 数据;

解卷拟合单元,用于对所述相位数据进行解卷拟合处理,得到一阶匀场参 数。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:

过滤单元,用于对所述扫描单元扫描得到的所述每个TE的幅度图像分别进 行平滑滤波,获得与每个TE的幅度图像对应的平滑图像;

所述分割单元,还用于将每个TE对应的平滑图像分别分割成多个图像分割 区域。

8.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,还包括:

第二确定单元,用于在所述第一确定单元确定所述每个TE对应的所述信噪 比高的图像分割区域中的最大连通区域;

第二选择单元,用于选择所述不同TE对应的最大连通区域的重叠区域作为 匀场参数的计算区域;

所述第一选择单元,还用于在所述相位差图像中选择所述计算区域的相位 数据。

9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述分割单元,具体用于采 用多相水平集的分割方式将所述每个TE的幅度图像分别分割成多个不同灰度 水平的图像分割区域。

10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述解卷拟合单元包括:

解卷单元,用于对所述相位数据进行解卷,得到解卷后的相位图;

估算单元,用于利用所述最小二乘法对所述相位图进行估算,得到估算的 一阶匀场参数。

11.一种医疗设备,其特征在于,包括:

处理器,以及用于存储所述处理器可执行指令的存储器;

其中,所述处理器被配置为:

按照设定参数对选定对象进行磁共振扫描,获取不同回波时间TE的相位图 像和幅度图像;

计算所述不同TE的相位图像之差,得到相位差图像;

将每个TE的幅度图像分割成多个图像分割区域;

从所述每个TE的幅度图像分割成的所述多个图像分割区域中确定高灰度 分割区域;

在所述相位差图像中选择所述高灰度分割区域的相位数据;

对所述相位数据进行解卷拟合处理,得到一阶匀场参数。

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