[发明专利]流水线ADC的第一级电容校准方法有效

专利信息
申请号: 201511019023.8 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN106936432B 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 万磊;李丹;张辉;张辉;王海军;丁学欣 申请(专利权)人: 上海贝岭股份有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人: 刘锋;冯丽
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 流水线 adc 一级 电容 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种流水线ADC的第一级电容校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

S10,检测所述流水线ADC的INL曲线;

S20,确定所述INL曲线上的17个区间;

S30,对该17个区间内的INL曲线分别进行线性拟合,并分别计算17个线段的斜率k1,k2,……,k17,再计算17个斜率除最大值和最小值外其他15个斜率值的平均值

S40,根据S30中斜率的平均值对所述17个区间进行重新搜索,重新求得每个拟合直线的截距值b;

S50,根据斜率的平均值以及截距值b,对所述17个区间重新进行线性拟合,计算每一段线段的INL跳变值;

S60,根据S50中的INL跳变值,对与每一段线段对应的ADC输出结果加上与该线段对应的INL跳变值,从而补齐ADC传输曲线的跳变位置;

S70,检测补齐后的INL曲线的跳变值是否大于1LSB,若判断为是则重复执行S20。

2.如权利要求1所述的流水线ADC的第一级电容校准方法,其特征在于,所述步骤S20具体包括以下步骤:

将INL曲线划分为17个搜索范围(Xi,Xi+1),并在每一个搜索范围(Xi,Xi+1)中确定一组搜索点(Si,Si+1),该搜索点之间的横坐标距离X是固定的,从Si=Xi点开始,计算这两个搜索点之间的INL差值,随后两个搜索点均向右平移一个单位,计算这两个搜索点之间的INL差值,重复此步骤,直到Si+1=Xi+1时,能得到若干INL差值,确定INL差值最大时的Si和Si+1的位置,并按照每个区间中Si和Si+1的位置,划分为17个搜索范围;其中i为自然数,i=0,1,2,…。

3.如权利要求1所述的流水线ADC的第一级电容校准方法,其特征在于,所述S40具体包括以下步骤:

S41,设定在(S0,S1)区间中截距搜索范围(b0,b1),从而得到在(S0,S1)区间中拟合直线表达式:

S42,在横坐标为x0时,设INL曲线上的点为P(x0,f(x0)),拟合实线上的点P1为

S43,定义评价标准T:

S44,截距b从b0变化到b1,获得一系列评价标准T,取评价标准T值最小时候的截距b作为该区间(S0,S1)区间中拟合直线的截距;

S45,在余下的16个区间中,重复执行步骤S41~S44得到所有17个区间中拟合直线的截距。

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