[发明专利]一种用于频率信号发生芯片的修调装置

说明书

本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，高速计数电路输出的计数值传递给2选1电路；2选1电路的一端连接集成电路自动测试设备，另一端连接修调译码电路；修调译码电路连接修调控制电路，修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。利用本发明，可以实现实时频率测试和修调，可多路并行测试，满足高速低成本的量产测试要求。

技术领域

本发明涉及一种用于频率信号发生芯片的修调装置，属于集成电路测试技术领域。

背景技术

在混合集成电路的设计中，特别是振荡器、V/F转换器和多媒体芯片中，常常需要有输出频率信号的管脚。这些管脚因为使用材料的差别、生产工艺的影响，会造成芯片的实际输出参数与设计者仿真设计的期望值存在较大偏差，特别是电阻值、电容值的偏差可达10％。为了降低成本、确保输出参数的可靠性，很多新出品的芯片内部设计了修调电路，即在出厂前对芯片内部的电阻值或电容值进行微调(即修调)。通过修调电路的处理，可以使芯片的实际输出参数符合预期的范围。

修调电路的种类虽然较多，但出于成本等方面的考虑，大多数芯片厂商都采用熔丝修调。它的基本原理是在待修调的熔丝两端施加一个合适修调的电压差(该数值一般由设计公司设定)，进而产生一段时间(如十几毫秒)的大电流或大电压值，从而熔断熔丝。熔丝相当于一个开关，通过修调来改变开关状态，即可增大或者减小通路电阻/电容，使最终的电阻或电容特性达到符合设计要求的精确值。

熔丝修调因工艺简单、速度快，被广泛用于混合集成电路的测试中。但在熔丝修调过程中，某段熔丝一旦熔断，其电路阻值就会发生变化，并且不可恢复，因此熔丝修调中最重要的工作就是准确计算测量值与预期值的差，并准确判断需要修调的熔丝段。在实践中，熔丝修调往往存在精度不易控制，测试效率低等缺陷。

在申请号为201310567758.9的中国专利申请中，公开了一种熔丝修调电路，包括开关控制模块、修调值载入模块、熔丝熔断控制模块以及修调模块，修调模块包括PMOS管、第一电阻、熔丝、NMOS管、第二电阻以及D触发器，其中：PMOS管的源极与稳压电源连接，PMOS管的栅极与开关控制模块连接，PMOS管的漏极与第一电阻的一端连接，第一电阻的另一端与熔丝的一端连接，熔丝的另一端与NMOS管的源极连接，NMOS管的栅极与熔丝熔断控制模块连接，NMOS管的漏极接地，第二电阻的一端与NMOS管的源极连接，第二电阻的另一端接地，D触发器的CP端口与修调值载入模块连接，D端口与NMOS管的源极连接。该技术方案的特点是在晶圆封装好后再进行修调，从而降低成本，并提高修调精度。

另一方面，针对频率信号发生芯片的修调测试需要频率测试模块和修调模块两个核心组件。其中，频率测试模块负责对修调前后的芯片管脚输出的频率信号进行检测。为了保证频率测试的可靠性，通常需要频谱分析仪等设备，但该类设备成本较高、结构复杂且通道少，在量产测试中效率较低。现有的集成电路自动测试设备(简称为ATE，下同)具有数据采集和分析功能，但采样频率较低。受此限制，只能通过多次扫描的方法才能完成频率信号发生芯片的采集，不但增加了测试时间，而且对噪声信号的处理能力也比较差。修调模块一般需要测试数据经ATE计算后才能完成修调动作，不能实时完成，因此修调效率较低，不能满足量产测试的要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种面向频率信号发生芯片的修调装置。

为实现上述发明目的，本发明采取下述技术方案：

一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；

所述高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，所述高速计数电路输出的计数值传递给所述2选1电路；