[发明专利]一种圆锥面上键槽深度的检测方法、加工调整方法及检具

说明书

本发明提供了一种用于检测及调整圆锥面上键槽深度的方法及检测键槽深度的检具，所述检具包括套于待测工件圆锥面上的锥套和嵌于待测工件圆锥面上键槽中的键，锥套的圆锥孔的锥度与待测工件圆锥面的锥度相同，锥套的上端面突出于待测工件的上端面，键包括下偏差键和上偏差键，其中下偏差键形状与键槽形状相匹配、高度为键槽的最小极限深度，上偏差键形状与键槽形状相匹配、高度为键槽的最大极限深度；在键槽中安装下偏差键或上偏差键，将锥套待测工件的圆锥面上，通过锥套上端面的高度变化判断键槽深度是否符合加工要求；本发明可在加工现场对圆锥面上键槽深度进行快速、便捷、准确的检测，并且可确定键槽的调整量。

技术领域

本发明涉及一种用于检测和加工调整圆锥面上键槽深度的方法及检测键槽深度的检具，属于机械加工技术领域。

背景技术

键传动是动力传动形式之一，键与传动零件上的键槽进行装配配合。在加工键槽的过程中，对于圆锥体上半圆键槽深度的测量比较困难。一般采取以下测量方法：

1、用高度尺测量：

在平板上将零件倾斜放置，使圆锥体侧母线与平板平行(用高度尺推平)，然后，高度尺在锥体侧母线处清零，下降高度尺杠杆表找到半圆键槽最低点，这时数显表上读数即为键槽深度。此测量方法可以得到具体深度数值，但零件须倾斜放置，且不同的零件工装也有区别，结构较复杂；

2、三坐标检测：

三坐标检测是通过测头采集数据建立坐标系，再根据所检测要素采集所需的数据，通过计算机分析计算给出检测结果报告。三坐标检测准确可靠，目前应用广泛。但由于三坐标设备对使用环境要求较高，不能实现现场检测，往往从送检到出结果报告过程较长，时效性差；

因此，研究一种简单便捷，可现场进行检测圆锥体上键槽深度的工装检具成为目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足并提供一种用于检测和加工调整圆锥面上键槽深度的方法及检测键槽深度的检具，可在加工现场对圆锥面上键槽深度进行快速、便捷、准确的检测，并且可确定键槽的调整量。

实现本发明目的所采用的技术方案为，一种圆锥面上键槽深度的检测方法，包括如下步骤：

(1)将锥度与圆锥面锥度相同的锥套套于待测工件的圆锥面上，锥套的上端面突出于待测工件的上端面，调整锥套位置使得锥套上端面保持水平，以锥套的水平上端面为基准面，测量基准面的基准高度H；

(2)取下锥套，将形状与键槽形状相匹配、高度为键槽的最小极限深度的下偏差键装入键槽中，套上锥套并且调整锥套位置使得锥套上端面保持水平，测量基准面的下偏差高度h₁；

(3)比较基准高度H与下偏差高度h₁，若h₁＝H，进入步骤(4)；若h₁＞H，则键槽深度过浅，待测工件不合格，检测完成；

(4)取下锥套和下偏差键，将形状与键槽形状相匹配、高度为键槽的最大极限深度的上偏差键装入键槽中，套上锥套并且调整锥套位置使得锥套上端面保持水平，测量基准面的上偏差高度h₂；

(5)比较基准高度H与上偏差高度h₂，若h₂＞H，则键槽深度合适，待测工件合格，检测完成；若h₂＝H，则键槽深度过深，待测工件不合格，检测完成。

步骤(1)中套锥套之前首先去除待测工件表面毛刺。

一种基于上述检测方法的圆锥面上键槽深度的加工调整方法，包括如下步骤：