[发明专利]断路器及其试验装置和方法

说明书

本专利申请提供断路器及其试验装置和方法，断路器包括：第一接线端、动触头、第二接线端、及可导电地连接第二接线端的静触头；装置包括：活动设在动触头的连接端子、试验按钮、驱动柱、弹簧、导电连接件、及试验电阻；在连接端子随动触头活动而运动至电性接触第二测试端的情况下，令弹簧可导电地连接至第二接线端，试验按钮按下令第一测试端受到施压部的压力作用而运动至接触第二导电端，而第一导电端经试验电阻导电连接至第一接线端，从而形成第一接线端和第二接线端间的试验回路；弹簧转动较小角度即可使第一测试端活动较大距离，使得试验回路开距加大，能承受高电压冲击，且试验回路导通需要两处导通条件，保护试验电阻，安装且操作方便。

技术领域

本专利申请涉及断路器技术领域，特别是涉及断路器及其试验装置和方法。

背景技术

低压剩余电流断路器，都需要有一个试验装置，用来对断路器的脱扣功能进行定期的试验，以确认断路器的保护功能是否正常，从而保障人身用电安全。

现有断路器的试验装置通常存在试验回路开距过小，无法承受6KV高电压冲击而烧坏试验电阻，使断路器功能失效，有的试验回路仅设计有一个功能开头，无法实现对断路器电源的进线端自由选择功能，若接错电源的进线端，即使没有闭合动、静触头，按压试验试验也可使试验回路导通，时间长时就会烧坏试验电阻，这即限定了电源进线端的位置，这给断路器的使用造成不方便，有的存在试验回路设计复杂，加工复杂，成本高，有的试验试验按钮的工作方式设计不合格，用户对断路器进行试验时操作麻烦。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利申请的目的在于提供断路器及其试验装置和方法，用于解决现有技术中断路器试验装置存在的开距过小、没有闭合动静触头也会导通试验回路、及试验回路设计复杂等问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本专利申请提供一种断路器的试验装置，所述断路器包括：第一接线端、动触头、第二接线端、及可导电地连接所述第二接线端的静触头；所述试验装置包括：试验按钮，设置并外露于所述断路器壳体；所述试验按钮连接有驱动柱，所述驱动柱随所述试验按钮按下而沿预定方向运动，所述驱动柱具有施压部；导电材质的弹簧，套设于所述断路器壳体延伸出的凸柱上；所述弹簧两端分别为第一测试端及第二测试端；所述第一测试端位于所述施压部的运动行程上，第二测试端定位于所述断路器壳体；其中，在所述试验按钮按下时，所述第一测试端受到所述施压部的压力作用而运动，并令所述弹簧形变而产生用于回弹所述试验按钮的弹力；连接端子，设置于所述动触头并可随动触头活动而运动；其中，在动触头活动至电性接触所述静触头的情况下，所述连接端子运动至与所述第二测试端电性接触；试验电阻，其第一电阻端可导电地连接于所述第一接线端；导电连接件，其包括：第一导电端及第二导电端，所述第一导电端可导电地连接所述试验电阻的第二电阻端，所述第二导电端位于所述第一测试端的运动行程上，以供所述第一测试端运动至与所述第二导电端电性接触，从而在所述连接端子与所述第二测试端电性接触的情况下，实现第一接线端与第二接线端之间的试验回路导通。

于一实施例中，所述试验按钮设有位于所述断路器壳体内壁一侧的限位部，用于限制所述试验按钮脱出所述断路器壳体。

于一实施例中，所述限位部为勾扣于所述断路器壳体内壁的倒钩形凸部。

于一实施例中，所述第二测试端通过穿设所述断路器壳体的定位孔而获得定位。

于一实施例中，所述第一导电端和所述第二电阻端穿设所述断路器壳体上的同一定位孔内形成可导电地连接。

于一实施例中，所述第一导电端和所述第二电阻端在所述定位孔内被压至紧密接触而获得定位。

于一实施例中，所述第一导电端和所述第二电阻端在所述定位孔内通过盈配合而紧密接触；或者，所述定位孔内设有填塞物而使所述第一导电端和所述第二电阻端紧密接触。

于一实施例中，所述弹簧包括：弹簧主体；所述弹簧主体一端延伸有延伸臂，所述延伸臂外端形成所述第一测试端。