[发明专利]对位结构

权利要求书

1.一种对位结构，其特征在于，包括：

一第一壳体，具有一第一凸状结构；

一第一磁性件，配置于该第一壳体且具有一第一表面，其中该第一表面为非平面，该第一磁性件的局部表面接触该第一凸状结构且适于相对于该第一凸状结构转动；

一第二壳体，具有一第二凸状结构；以及

一第二磁性件，配置于该第二壳体且具有一第二表面，其中该第二表面为非平面，该第二磁性件的局部表面接触该第二凸状结构且适于相对于该第二凸状结构转动；

其中该第一凸状结构和第二凸状结构是为环状，

其中当该第二壳体靠合于该第一壳体时，该第一表面与该第二表面彼此相向，且该第一磁性件与该第二磁性件之间的磁吸力导引该第二磁性件对位于该第一磁性件，并阻止该第二壳体分离于该第一壳体。

2.如权利要求1所述的对位结构，其特征在于，该第一表面具有一第一端部，该第二表面具有一第二端部，当该第二壳体靠合于该第一壳体时，该第一端部与该第二端部之间的距离为该第一表面与该第二表面之间的最小距离。

3.如权利要求2所述的对位结构，其特征在于，该第一端部及该第二端部皆为线状。

4.如权利要求1所述的对位结构，其特征在于，该第一表面具有一第一端部，该第二表面具有一第二端部，当该第二壳体靠合于该第一壳体时，该第一端部与该第二端部之间的磁吸力为该第一表面与该第二表面之间的最大磁吸力。

5.如权利要求4所述的对位结构，其特征在于，该第一端部及该第二端部皆为线状。

6.如权利要求1所述的对位结构，其特征在于，该第一表面及该第二表面皆为凸面。

7.如权利要求1所述的对位结构，其特征在于，该第一表面为弧面或非弧面，该第二表面为弧面或非弧面。

8.如权利要求1所述的对位结构，其特征在于，该第一磁性件及该第二磁性件的至少其中之一为磁铁。

9.如权利要求1所述的对位结构，其特征在于，该第一磁性件可转动地配置于该第一壳体，该第二磁性件可转动地配置于该第二壳体。

10.如权利要求9所述的对位结构，其特征在于，该第一壳体具有一第一柱体，该第二壳体具有一第二柱体，该第一磁性件具有一第一枢接孔，该第二磁性件具有一第二枢接孔，该第一柱体穿设于该第一枢接孔，该第二柱体穿设于该第二枢接孔。