[发明专利]半自动芯片裂片机及裂片方法有效
申请号: | 201511029695.7 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN105590884B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 陈洋 | 申请(专利权)人: | 天津天物金佰微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/78 |
代理公司: | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人: | 李莉华 |
地址: | 300385 天津市西青*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 活动龙门 角度微调 承片台 吸盘 轧辊 导轨滑块 回转气缸 芯片 裂片机 测器 导轨 滑台 裂片 电机 滚压 半自动化机构 单作用气缸 电气控制部 连接电机 裂片过程 设备底座 受力状态 相对旋转 不一致 皮带轮 下压力 下压 准直 皮带 轴承 突变 装配 保证 | ||
1.半自动芯片裂片机,其特征在于:包括设备底座(1)、旋转承片台(2)、活动龙门架(3)、导轨、电机(4)、传动机构(5)和电气控制部;
其中,所述旋转承片台(2)、活动龙门架(3)、导轨、电机(4)、传动机构(5)和电气控制部安装在设备底座(1)上,所述活动龙门架(3)通过传动机构(5)、导轨与电机(4)连接;
所述旋转承片台(2)包括回转气缸(6)、角度微调滑台(7)和吸盘(8),所述角度微调滑台(7)设置在回转气缸(6)上,所述吸盘(8)安装在所述角度微调滑台(7)上,所述吸盘(8)用于吸着芯片并保证芯片在裂片过程中轧辊(10)滚压过程中不会发生位移,回转气缸(6)带动旋转承片台(2)旋转90°并确保两次滚压的垂直角度一致和准确,角度微调滑台(7)用于调整芯片放置的水平角度以补偿手工放置导致的误差;
所述活动龙门架(3)包括框架、单作用气缸(9)、轧辊(10)、螺旋微测器(11)、轴承(12)及导轨滑块(13)组成,所述导轨滑块(13)装配于导轨上,单作用气缸(9)配合减压阀用于调整轧辊(10)对芯片施加向下的压力,螺旋微测器(11)安装在单作用气缸(9)两侧,用于调整轧辊(10)下压高度和水平角度;
所述传动机构(5)包括皮带和皮带轮,所述传动机构(5)连接电机(4)和框架,所述传动机构(5)和电机使得活动龙门架(3)在裂片过程中相对旋转承片台(2)运动,并保证活动龙门架(3)在裂片过程中相对旋转承片台(2)运动的速度和位置的准确性;
所述电气控制部包括龙门架控制部、轧辊控制部和承片台控制部,所述龙门架控制部包括继电器、电机调速器和接近开关,用于控制活动龙门架(3)的运动方向和运动速度,所述轧辊控制部包括减压阀,用于控制轧辊(10)的下压力,所述承片台控制部包括电磁阀、减压阀,用于控制旋转承片台(2)的旋转角度。
2.根据权利要求1所述的半自动芯片裂片机,其特征在于:所述传动机构(5)包括的皮带和皮带轮为齿形皮带和齿形皮带轮。
3.根据权利要求1所述的半自动芯片裂片机,其特征在于:所述吸盘(8)为真空吸盘。
4.根据权利要求1所述的半自动芯片裂片机,其特征在于:所述轴承(12)为线性轴承。
5.根据权利要求1所述的半自动芯片裂片机,其特征在于:所述导轨滑块(13)为线性导轨滑块。
6.根据权利要求1所述的半自动芯片裂片机,其特征在于:所述旋转承片台(2)还设有激光器,所述激光器与角度微调滑台(7)配合用于精确调整芯片的放置角度。
7.根据权利要求1所述的半自动芯片裂片机,其特征在于:所述电气控制部还包括精密减压阀。
8.半自动芯片裂片机的裂片方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤1,备机,打开设备总开关,调整减压阀、精密减压阀至设定压力;
步骤2,放片,将待裂片的芯片放置在垫片上,将垫片放置在吸盘(8)上,然后盖上薄膜;
步骤3,真空,打开真空阀,排出芯片与垫片之间的气体,确保芯片可靠吸着于垫片上;
步骤4,对准,通过角度微调滑台(7)对正芯片角度;
步骤5,一次裂片,按下启动按钮通过轧辊(10)开始裂片作业;
步骤6,旋转,电机(4)带动轧辊(10)完成一次裂片后到达设备的另一端,触发接近开关后电机停止,接通电磁阀和减压阀,回转气缸(6)带动旋转承片台(2)及芯片旋转90°,同时接通定时器开始延时计时;
步骤7,二次裂片,延时计时结束后启动电机(4)反向转动,带动轧辊(10)再次压过芯片表面,回到工作起始位置,触发接近开关后自动停止,同时关闭电磁阀,回转气缸(6)带动旋转承片台(2)和芯片同时复位;
步骤8,取片,关闭真空阀,取出垫片和芯片,送至下一工序。
9.根据权利要求8所述的半自动芯片裂片机的裂片方法,其特征在于:所述步骤4还包括,打开激光器,根据激光器投射在芯片上的十字亮线和芯片上的沟槽,利用角度微调滑台(7)对正芯片角度。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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