[发明专利]显示基板母板及其制造和检测方法以及显示面板母板

说明书

一种显示基板母板及其制造和检测方法以及显示面板母板，该显示基板母板包括衬底基板、位于衬底基板上的用以形成多个显示基板的多个显示基板区以及位于显示基板区之间的间隔区，在间隔区内设置有至少一个检测区；检测区包括至少一个膜层，显示基板区至少包括与检测区的至少一个膜层同层设置的膜层。该显示基板母板利于段差机测定膜厚和段差，可准确输出数据，节省了人力和时间。

技术领域

本发明至少一实施例涉及一种显示基板母板及其制造方法、显示面板母板、和检测显示基板母板的方法。

背景技术

通常，薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)，其基本结构包括阵列基板(Array Substrate)、彩膜基板(ColorFilter Substrate)、以及夹设在两片基板之间的液晶(Liquid Crystal)层。显示器件中还包括用于控制液晶偏转的像素电极和公共电极。TFT-LCD中，通过控制液晶分子的偏转，从而实现对光线强弱的控制，然后通过彩膜基板的滤光作用，实现彩色图像显示。例如，彩膜基板包括黑矩阵和用于显示颜色的彩色树脂。阵列基板和/或彩膜基板即为显示基板。

通常，生产过程中，在一张母板基板上可以制作包括多个显示基板的显示基板母板，以提高生产效率。上下两个显示基板(例如，阵列基板和彩膜基板)对盒后经分割成为一个个小的液晶显示面板。

在显示基板的制作过程中，由于各层的厚度差异、各层制作顺序的不同会产生段差。在成盒工艺中，要求显示基板表面具有一定的平坦度，防止由于平坦度不足而造成的涂覆的取向膜在不平坦处配向效果不佳产生配向不良(Rubbing Mura)，从而降低了液晶显示面板的显示质量。因此，有必要在显示基板的生产过程中对各类段差进行测定和监控。

发明内容

本发明至少一实施例提供一种显示基板母板及其制造和检测方法以及显示面板母板。该显示基板母板可结合段差机对膜厚和段差进行准确测定，以解决因测量者对像素轮廓识别不同而造成的数据输出具有差异的问题，并且不需刮膜即可测定膜厚。

本发明至少一个实施例提供一种显示基板母板，包括衬底基板、位于所述衬底基板上的用以形成多个显示基板的多个显示基板区以及位于所述显示基板区之间的间隔区，

在所述间隔区内设置有至少一个检测区；

所述检测区包括至少一个膜层，所述显示基板区至少包括与所述检测区的至少一个膜层同层设置的膜层。

例如，在本发明一实施例提供的显示基板母板中，所述检测区的膜层和所述显示基板区与该膜层同层设置的膜层具有相同的厚度。

例如，在本发明一实施例提供的显示基板母板中，各所述显示基板区包括显示像素区，每个所述检测区包括虚设像素区，所述检测区包括的至少一个膜层位于所述虚设像素区内，所述显示基板区至少包括的与所述检测区的至少一个膜层同层设置的膜层位于所述显示像素区内。

例如，在本发明一实施例提供的显示基板母板中，所述虚设像素区包括的膜层个数小于或等于所述显示像素区包括的膜层个数。

例如，在本发明一实施例提供的显示基板母板中，所述检测区具有外围边框，所述外围边框围绕在所述虚设像素区外，所述外围边框与所述虚设像素区之间为裸露所述衬底基板的空白区。

例如，在本发明一实施例提供的显示基板母板中，所述显示像素区包括呈阵列排布的多个显示像素单元，每个显示像素单元包括多个子显示像素单元；

所述虚设像素区包括呈阵列排布的多个虚设像素单元，每个虚设像素单元包括多个子虚设像素单元；

每个所述虚设像素单元中子虚设像素单元的个数与每个所述显示像素单元中子显示像素单元的个数相等，并且所述虚设像素单元中多个子虚设像素单元的尺寸分别与所述显示像素单元中多个子显示像素单元的尺寸一一对应相等；