[发明专利]一种基于双目视觉的测距方法及装置有效
申请号: | 201511030814.0 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN105627932B | 公开(公告)日: | 2019-07-30 |
发明(设计)人: | 杨建军;蒲庆;卢杰刚;吴德鑫;胡益铭;谢帅宁 | 申请(专利权)人: | 天津远翥科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
地址: | 300220 天津市河西区洞庭*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 双目 视觉 测距 方法 装置 | ||
1.一种基于双目视觉的测距方法,其特征在于,包括:
通过双目视觉系统的第一感光元件和第二感光元件获取同一时刻分别采集的第一图像和第二图像;
接收待测距物体的选取操作,提取第一图像中所选取物体的基准特征点,并根据基准特征点对第二图像进行暴力匹配,获取第二图像中与所述基准特征点对应的匹配特征点;
根据基准特征点和匹配特征点的位置分布,对所述基准特征点和匹配特征点进行过滤,建立过滤后的多条连接基准特征点和对应的匹配特征点的线段;
计算每条线段的长度,根据所述线段的长度通过双目视觉测距方法计算得到多个深度距离;
计算多个深度距离的平均值,并将所述深度距离的平均值作为所述待测距物体与感光元件之间的距离。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述基准特征点和匹配特征点进行过滤,包括:
计算基准特征点的方差和匹配特征点的方差;
将所述基准特征点或匹配特征点的方差与预设的方差阈值进行比较,在所述基准特征点或匹配特征点的方差大于预设的方差阈值情况下,舍弃所述基准特征点或匹配特征点。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在计算深度距离的平均值后,还包括:
计算每个深度距离与深度距离均值的差值,并将所述差值与预设的差值阈值进行比较,在所述差值大于预设的差值阈值情况下,舍弃所述深度距离,得到剩余的深度距离;
所述将多个深度距离的平均值作为待测距物体与感光元件之间的距离,包括:
将剩余多个深度距离的平均值作为待测距物体与感光元件之间的距离。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述的计算深度距离的平均值之后,将深度距离的平均值作为待测距物体与感光元件之间的距离之前,还包括:
分别计算所述同一时刻前后每个预设时刻对应的深度距离的平均值;
所述将深度距离的平均值作为物体与感光元件之间的距离,包括:
计算每个预设时刻对应的深度距离的平均值的均值,并将所述均值作为待测距物体与感光元件之间的距离。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述感光元件为摄像头。
6.一种基于双目视觉的测距装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于通过双目视觉系统的第一感光元件和第二感光元件获取同一时刻第一感光元件分别采集的第一图像和第二感光元件采集的第二图像;
基准特征点及匹配特征点获取模块,用于接收待测距物体的选取操作,提取第一图像中所选取物体的基准特征点,并根据基准特征点对第二图像进行暴力匹配,获取第二图像中与所述基准特征点对应的匹配特征点;
线段建立模块,用于根据基准特征点和匹配特征点的位置分布,对所述基准特征点和匹配特征点进行过滤,建立过滤后的多条连接基准特征点和对应的匹配特征点的线段;
深度距离计算模块,用于计算每条线段的长度,根据所述线段的长度通过双目视觉测距方法计算得到多个深度距离;
距离计算模块,用于计算深度距离的平均值,并将所述深度距离的平均值作为所述待测距物体与感光元件之间的距离。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述线段建立模块用于:
计算基准特征点的方差和匹配特征点的方差;
将所述基准特征点或匹配特征点的方差与预设的方差阈值进行比较,在所述基准特征点或匹配特征点的方差大于预设的方差阈值情况下,舍弃所述基准特征点或匹配特征点。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
深度距离舍弃模块,用于计算每个深度距离与深度距离均值的差值,并将所述差值与预设的差值阈值进行比较,在所述差值大于预设的差值阈值情况下,舍弃所述深度距离;
所述距离计算模块,用于:
将剩余多个深度距离的平均值作为待测距物体与感光元件之间的距离。
9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
平均值计算模块,用于分别计算所述同一时刻前后每个预设时刻对应的深度距离的平均值;
所述距离计算模块,用于计算每个预设时刻对应的深度距离的平均值的均值,并将所述均值作为待测距物体与感光元件之间的距离。
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