[发明专利]熔断器工作参数的修订方法及装置

权利要求书

1.一种熔断器工作参数的修订方法，所述熔断器用于保护二极管，其特征在于，包括：

短路电流值取得步骤，得到不同电压切入角下的不同短路电流值；

二极管损坏时间-短路电流曲线取得步骤，得到二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线；

熔断器熔断时间-短路电流曲线取得步骤，得到熔断器的熔断时间-短路电流曲线；

实验步骤，进行熔断器短路保护的实验，通过改变电压切入角来实现所述短路电流值取得步骤中得到的不同的短路电流值，并检测二极管在不同温度下的不同短路电流值时的损坏时间和不同短路电流值时熔断器的熔断时间；以及

修正步骤，根据所述实验步骤得到的所述短路电流值、所述损坏时间和所述熔断时间修正所述二极管损坏时间-短路电流曲线取得步骤中得到的所述二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线以及所述熔断器熔断时间-短路电流曲线取得步骤中得到的所述熔断器的熔断时间-短路电流曲线。

2.根据权利要求1所述的熔断器工作参数的修订方法，其特征在于，

在所述短路电流值取得步骤中，根据电路系统的参数，通过理论计算或仿真的方法，得到不同电压切入角下的不同短路电流值；并且/或者，

在所述二极管损坏时间-短路电流曲线取得步骤中，根据二极管的数据手册的数据推算得到二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线。

3.根据权利要求2所述的熔断器工作参数的修订方法，其特征在于，

所述二极管的数据手册的数据包括I²t数据、二极管的热阻-功率曲线和二极管导通电流-电压曲线。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的熔断器工作参数的修订方法，其特征在于，

在所述熔断器熔断时间-短路电流曲线取得步骤中，根据熔断器的数据手册的数据拟合得到熔断器的熔断时间-短路电流曲线；

在所述实验步骤中，通过理论计算或仿真的方法，改变所述电压切入角来实现所述短路电流值取得步骤中得到的不同的短路电流值；并且/或者，

在所述修正步骤中，根据所述实验步骤得到的所述短路电流值、所述损坏时间和所述熔断时间拟合所述二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线以及所述熔断器的熔断时间-短路电流曲线，由此修正所述二极管损坏时间-短路电流曲线取得步骤中得到的所述二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线以及所述熔断器熔断时间-短路电流曲线取得步骤中得到的所述熔断器的熔断时间-短路电流曲线。

5.根据权利要求4所述的熔断器工作参数的修订方法，其特征在于，

所述熔断器用于保护风力发电变流器中的二极管。

6.一种熔断器工作参数的修订装置，所述熔断器用于保护二极管，其特征在于，包括：

短路电流值取得模块，用于得到不同电压切入角下的不同短路电流值；

二极管损坏时间-短路电流曲线取得模块，用于得到二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线；

熔断器熔断时间-短路电流曲线取得模块，用于得到熔断器的熔断时间-短路电流曲线；

实验模块，用于进行熔断器短路保护的实验，通过改变电压切入角来实现所述短路电流值取得模块所得到的不同的短路电流值，并检测二极管在不同温度下的不同短路电流值时的损坏时间和不同短路电流值时熔断器的熔断时间；以及

修正模块，用于根据所述实验模块得到的所述短路电流值、所述损坏时间和所述熔断时间修正所述二极管损坏时间-短路电流曲线取得模块所得到的所述二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线以及所述熔断器熔断时间-短路电流曲线取得模块所得到的熔断器的熔断时间-短路电流曲线。

7.根据权利要求6所述的熔断器工作参数的修订装置，其特征在于，

所述短路电流值取得模块，根据电路系统的参数，通过理论计算或仿真的方法，得到不同电压切入角下的不同短路电流值；并且/或者，

所述二极管损坏时间-短路电流曲线取得模块，根据二极管的数据手册的数据推算得到二极管在不同温度下的损坏时间-短路电流曲线。

8.根据权利要求7所述的熔断器工作参数的修订装置，其特征在于，

所述二极管的数据手册的数据包括I²t数据、二极管的热阻-功率曲线和二极管导通电流-电压曲线。