[发明专利]原子荧光光度计

说明书

技术领域

本发明涉及光学系统领域，具体涉及一种原子荧光光度计。

背景技术

原子荧光光谱分析是利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质 的定性与定量分析的方法，它具有设备简单，灵敏度高，光谱干扰少， 工作曲线线性范围宽，可以进行多元素测定等优点，在地质，冶金， 石油，生物医学，地球化学，材料和环境科学等各个领域内获得了广 泛的应用。常见的激发光源校正是光电检测器接收激发光源经透镜汇 聚在原子化器上的能量，并不能做到直接检测激发光源的能量，所以 其激发光源漂移校正功能不全面。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种原子荧光光度计，能够解决现有 技术存在的激发光源漂移校正功能不全面的问题。

为此目的，本发明提出一种原子荧光光度计，包括：

激发光源、第一光学透镜、原子化器、光接收器、第一光电检 测器和第二光电检测器；其中，

所述激发光源、第一光学透镜和原子化器置于同一光轴上，所 述第一光学透镜位于所述激发光源和原子化器之间，所述激发光源 发射的特征光谱经所述第一光学透镜聚焦到所述原子化器，所述原 子化器产生的原子荧光由所述第二光电检测器接收，所述光接收器 用于接收所述激发光源发射的特征光谱，并传输给所述第一光电检 测器。

本发明实施例所述的原子荧光光度计，利用第一光电检测器直 接检测激发光源能量变化，对激发光源进行实时监测，从而实现对 激发光源漂移校正功能。

附图说明

图1为本发明原子荧光光度计一实施例的结构示意图；

其中，1为激发光源，2为第一光学透镜，3为原子化器，4为 第二光学透镜，5为第二光电检测器，6为第一光电检测器，7为光 接收器，8为第一光学透镜底座。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将 结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清 楚地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是 全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没 有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明 保护的范围。

如图1所示，本实施例公开一种原子荧光光度计，包括：

激发光源1、第一光学透镜2、原子化器3、光接收器7、第一 光电检测器6和第二光电检测器5；其中，

所述激发光源1、第一光学透镜2和原子化器3置于同一光轴上， 所述第一光学透镜2位于所述激发光源1和原子化器3之间，所述 激发光源1发射的特征光谱经所述第一光学透镜2聚焦到所述原子 化器3，所述原子化器3产生的原子荧光由所述第二光电检测器5 接收，所述光接收器7用于接收所述激发光源1发射的特征光谱， 并传输给所述第一光电检测器6。

本发明所述的光接收器以及第一光电检测器组成的漂移校正装 置适用于单道，也可做双道和多道装置。

本发明实施例所述的原子荧光光度计，利用第一光电检测器直 接检测激发光源能量变化，对激发光源进行实时监测，从而实现对 激发光源漂移校正功能。

可选地，在本发明原子荧光光度计的另一实施例中，还包括：

第一光学透镜底座；其中，

所述第一光学透镜底座，用于固定所述第一光学透镜。

可选地，在本发明原子荧光光度计的另一实施例中，所述第一 光学透镜底座，还用于固定所述光接收器，所述光接收器位于所述 第一光学透镜下方。

本发明实施例中，通过将光接收器置于第一光学透镜下方，能 够确保光接收器不会对透过第一光学透镜的光束产生影响。

可选地，在本发明原子荧光光度计的另一实施例中，所述光接 收器通过光纤将其接收到的特征光谱传输给所述第一光电检测器。

可选地，在本发明原子荧光光度计的另一实施例中，还包括：

第二光学透镜；其中，

所述第一光学透镜置于所述原子化器和第二光电检测器之间， 用于将所述原子化器产生的原子荧光聚焦到所述第二光电检测器。

本发明具有如下优点：1、光接收器的引入实现了激发光源实 时漂移校正，避免了检测信号的损失；2、光接收器置于透镜下方， 不会对透过透镜的有效光产生影响；3、简化光学系统结构，漂移校 正具有更大的灵活性；4、通过激发光源漂移校正从而间接提高原子 荧光光度计稳定性。

虽然结合附图描述了本发明的实施方式，但是本领域技术人员 可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型， 这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。