[发明专利]利用并行扫描测试数据输入和输出测试多核集成电路有效
申请号: | 201511035978.2 | 申请日: | 2015-11-11 |
公开(公告)号: | CN106680688B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 郝志勇;周宇亮;朱永峰 | 申请(专利权)人: | 恩智浦美国有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 欧阳帆 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 并行 扫描 测试数据 输入 输出 测试 多核 集成电路 | ||
【说明书】:
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