[发明专利]在实验室自动化系统中处理封闭元件的方法和装置

权利要求书

1.一种在实验室自动化系统中处理封闭元件的方法，其中封闭元件是密封箔（2），所述密封箔具有分别形成第一表面（20）和相对的第二表面（22）的至少两层，所述至少两层在至少一个材料性质上是不同的，所述方法包括在第一表面（20）和第二表面（22）的至少一个上确定所述材料性质从而识别密封箔（2）方向的步骤。

2.根据权利要求1所述的方法，其中材料性质被定性地确定。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中多个密封箔（2）叠置在盒（1）中，其中所述多个密封箔（2）中的一个是可以接近的，以便通过暴露的第一表面（20）或第二表面（22）抽取，并且其中所述材料性质是在暴露表面（24）上确定的。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其中封闭元件是具有形成第一表面（20）的非导电层和形成第二表面（22）的导电层的密封箔（2），并且其中在第一表面（20）和第二表面（22）的至少一个上确定电导率以便识别密封箔（2）的方向。

5.根据权利要求4所述的方法，其中电导率通过连续性测试来确定。

6.根据权利要求4所述的方法，其中为了正确处理密封箔（2），密封箔（2）被布置成使得导电层暴露，并且其中在暴露表面（24）上确定电导率。

7.一种在实验室自动化系统中处理封闭元件的装置，其中封闭元件是密封箔（2），其具有分别形成第一表面（20）和相对的第二表面（22）的至少两层，所述至少两层在至少一个材料性质上是不同的，所述装置包括确定装置（3），其用来在第一表面（20）和第二表面（22）的至少一个上确定所述材料性质从而识别密封箔（2）的方向。

8.根据权利要求7所述的装置，其中确定装置（3）布置用来定性地确定材料性质。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其中提供盒（1），在盒中叠置多个密封箔（2），其中多个密封箔（2）中的一个是可以接近的，以便通过暴露的第一表面（20）或第二表面（22）抽取，并且其中确定装置（3）布置成用来确定在暴露表面（24）上的材料性质。

10.根据权利要求9所述的装置，其中密封箔（2）以垂直列叠置在盒（1）中，其中最下层密封箔（2）是可以接近的以便抽取，其中盒包括至少两个支撑表面（16），以用于支撑密封箔（2）的列，并且其中至少一个支撑表面（16）布置成确定装置（3）的测量点。

11.根据权利要求7或8所述的装置，其中封闭元件是具有形成第一表面（20）的非导电层和形成第二表面（22）的导电层的密封箔（2），并且其中确定元件（3）布置成确定第一表面（20）和第二表面（22）的至少一个上的电导率以便识别密封箔（2）的方向。

12.根据权利要求11所述的装置，其中确定装置（3）包括连续性测试器，用来通过连续性测试来确定电导率。

13.根据权利要求12所述的装置，其中连续性测试器包括两个电极（31，32）用来接触第一表面（20）或第二表面（22）中的一个，以确定所述表面的电导率。

14.根据权利要求11所述的装置，其中为了正确处理密封箔，密封箔（2）被布置成导电层是暴露的，并且其中确定装置（3）布置成确定在暴露表面（24）上的电导率。

15.一种实验室自动化系统，其具有多个预分析、分析和/或后分析站，并且具有执行根据权利要求1至6中任一项所述的方法的设备和/或具有根据权利要求7至14中任一项所述的装置。