[实用新型]一种高功率超短激光脉冲对比度测量装置有效

专利信息
申请号: 201520001561.3 申请日: 2015-01-05
公开(公告)号: CN204330141U 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 夏彦文;刘华;孙志红;董军;彭志涛;朱启华;粟敬钦 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 功率 超短 激光 脉冲 对比度 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种高功率超短激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的测量装置中,在高功率超短激光脉冲入射方向上依次设置半波片(1)、扩束镜(2)、分束镜Ⅰ(3);入射脉冲光依次进入半波片(1)、扩束镜(2)、分束镜Ⅰ(3),经分束镜Ⅰ(3)分成透射光和反射光,在分束镜Ⅰ(3)的透射光路上设置有延迟调节器(4),在分束镜Ⅰ(3)的反射光路上依次设置有凸透镜Ⅰ(5)、限幅器(6)、凸透镜Ⅱ(7);所述的分束镜Ⅰ(3)的反射光经凸透镜Ⅰ(5)会聚到限幅器(6)上,从限幅器(6)反射的光经凸透镜Ⅱ(7)后变为平行光,与分束镜Ⅰ(3)的透射光并行进入和频晶体(8),产生倍频光,所述的倍频光沿和频晶体(8)端面垂直出射;在和频晶体(8)后依次设置光阑(9)、柱状凸透镜(10)、分束镜Ⅱ(11);在分束镜Ⅱ(11)的反射光路上依次设置挡片Ⅰ(12)、衰减片Ⅰ(13)、CCDⅠ(14);在分束镜Ⅱ(11)的透射光路上设置分束镜Ⅲ(15);在分束镜Ⅲ(15)的反射光路上依次设置挡片Ⅱ(16)、衰减片Ⅱ(17)、CCDⅡ(18);在分束镜Ⅲ(15)的透射光路上依次设置挡片Ⅲ(19)、衰减片Ⅲ(20)、CCDⅢ(21);从和频晶体(8)出射的倍频光经柱状凸透镜(10)会聚后被分束镜Ⅱ(11)分成强度相等的透射光和反射光,反射光经挡片Ⅰ(12)后透射到光束水平方向的左边区域,再经衰减片Ⅰ(13)衰减后在柱状凸透镜(10)焦面处被CCDⅠ(14)接收;所述的分束镜Ⅱ(11)的透射光经分束镜Ⅲ(15)分成强度相等的透射光和反射光,反射光经挡片Ⅱ(16) 后透射到光束水平方向的右边区域,再经衰减片Ⅱ(17)衰减后在柱状凸透镜(10)焦面处被CCDⅡ(18)接收,透射光经挡片Ⅲ(19) 后透射到光束水平方向的中间区域,再经衰减片Ⅲ(20)衰减后在柱状凸透镜(10)焦面处被CCDⅢ(21)接收。

2.根据权利要求1所述的高功率超短激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的CCDⅠ(14)、CCDⅡ(18)、CCDⅢ(21)置于柱状凸透镜(10)的焦面处,分别用于接收沿水平方向的左、中、右三个区域的倍频信号。

3.根据权利要求1所述的高功率超短激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的限幅器(6) 设置在凸透镜Ⅰ(5)和凸透镜Ⅱ(7)构成的准直系统的共同焦面处。

4.根据权利要求1所述的高功率超短激光脉冲对比度测量装置,其特征在于:所述的和频晶体(8)采用90度非共线Ⅰ类位相匹配。

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