[实用新型]显示模组EDID数据读写测试装置有效

专利信息
申请号: 201520003542.4 申请日: 2015-01-04
公开(公告)号: CN204480644U 公开(公告)日: 2015-07-15
发明(设计)人: 彭骞;胡磊;肖家波;李迪;徐梦银;陈凯;沈亚非 申请(专利权)人: 武汉精测电子技术股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01R31/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军;李满
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 显示 模组 edid 数据 读写 测试 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及显示模组测试技术领域,具体地指一种显示模组EDID数据读写测试装置。

背景技术

EDID(Extended Display Identification Data,扩展显示标识数据)是国际视频电子标准协会组织制定的一种广泛使用于显示模组的显示格式规范,它包含着如供应商信息、厂商预设置、最大图像、颜色设置、频率范围以及可支持的分辨率等有关显示器及其性能的参数。EDID数据的主要作用是让图像输出设备能输出合适的图像信号给显示模组,显示模组在出厂前都要经过严格的EDID读写功能测试。

目前,没有专门的EDID数据读写功能测试设备,显示模组EDID数据读写功能的测试都是通过上位机控制显示模组测试设备来实现的,这种测试方法存在以下缺陷:

1)显示模组测试设备通常质量重、体积大,不便于移动和携带;

2)显示模组测试设备需要搭配上位机使用,操作步骤较为繁琐,测试效率较低;

3)显示模组测试设备以及配套使用的上位机成本较高,尤其对于大批量的显示模组测试,会用到多套测试设备,极大的增加了产线的投入成本。

实用新型内容

本实用新型的目的就是要提供一种显示模组EDID数据读写测试装置,该测试装置能解决现有的测试方案所带来的测试效率低、测试成本较高以及测试设备不便于移动和携带等问题。

为实现此目的,本实用新型所设计的显示模组EDID数据读写测试装置,其特征在于:它包括MCU(Micro Control Unit,微控制单元)、电源管理模块、显示屏、按键板和输入输出接口,所述电源管理模块分别向MCU、显示屏和按键板供电,所述MCU的显示信号输出端连接显示屏的显示信号输入端,MCU的控制信号输入端连接按键板的信号输出端,所述输入输出接口包括扩展显示标识数据芯片电源对接口、扩展显示标识数据芯片数据线对接口、扩展显示标识数据芯片时钟对接口、扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口、时序控制板电源对接口和时序控制板接地对接口,所述扩展显示标识数据芯片数据线对接口和扩展显示标识数据芯片时钟对接口的一端连接MCU的数据通信接口,所述扩展显示标识数据芯片电源对接口和扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口的一端均连接MCU的供电接口;

所述时序控制板电源对接口的一端连接电源管理模块的对应电源信号输出端,时序控制板接地对接口的一端接地。

本实用新型主要通过MCU实现待测显示模组的EDID测试功能。由MCU的供电接口给待测显示模组的扩展显示标识数据芯片电源对接口5.1和扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口5.4提供引脚电压,在按键板输入数值后,通过MCU的IIC通道对扩展显示标识数据芯片执行先写入后读取操作,并将读取的数值反馈给显示屏,通过对比输入输出的数值判断扩展显示标识数据的读写结果。

本实用新型的有益效果:

1)提高测试效率:本实用新型仅仅包括MCU、电源管理模块、显示屏、按键板和输入输出接口这五个部件,体积较小、操作灵活,通电便可直接使用,无须花费大量人力安装调试;集成按键板和显示屏使测试结果更加简单直观。

2)降低产线生产测试成本:本实用新型的结构简单、成本低,可有效的降低显示模组产线的生产测试成本。

3)兼容性强:本实用新型通过设置上述输入输出接口,能适应各种显示模组的EDID检测。

附图说明

图1为本实用新型的使用状态结构框图;

其中,1—MCU、2—电源管理模块、3—显示屏、4—按键板、5—输入输出接口、5.1—扩展显示标识数据芯片电源对接口、5.2—扩展显示标识数据芯片数据线对接口、5.3—扩展显示标识数据芯片时钟对接口、5.4—扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口、5.5—时序控制板电源对接口、5.6—时序控制板接地对接口、6—待测显示模组、7—IIC总线。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明:

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