[实用新型]一种测量仪器的测高装置有效

专利信息
申请号: 201520050820.1 申请日: 2015-01-24
公开(公告)号: CN204346329U 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 胡荣明;武光伟;赵野鹤 申请(专利权)人: 西安科技大学
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 西安创知专利事务所 61213 代理人: 谭文琰
地址: 710054 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 仪器 测高 装置
【权利要求书】:

1.一种测量仪器的测高装置,其特征在于:包括设置在测量仪器(1)一侧的装置壳体(2)以及用于测量所述装置壳体(2)与测量仪器(1)正下方地面测量点之间距离的卷尺(4),所述装置壳体(2)内设置有用于卷绕所述卷尺(4)的转轴(5),所述装置壳体(2)上安装有用于测量装置壳体(2)与测量仪器高标志之间水平距离的伸缩式刻度尺(3),所述伸缩式刻度尺(3)和卷尺(4)交汇于装置壳体(2)上的一点,所述伸缩式刻度尺(3)包括与装置壳体(2)固定连接的固定刻度尺段(3-1)和连接在所述固定刻度尺段(3-1)上的多级伸缩刻度尺,所述固定刻度尺段(3-1)上安装有管水准器(8)。

2.根据权利要求1所述的一种测量仪器的测高装置,其特征在于:所述多级伸缩刻度尺为两级伸缩刻度尺,包括一级刻度尺段(3-2)和二级刻度尺段(3-3),所述一级刻度尺段(3-2)插入所述固定刻度尺段(3-1),所述一级刻度尺段(3-2)与所述固定刻度尺段(3-1)呈滑动配合,所述二级刻度尺段(3-3)插入所述一级刻度尺段(3-2),所述二级刻度尺段(3-3)与一级刻度尺段(3-2)呈滑动配合,所述固定刻度尺段(3-1)上设置有用于抵在一级刻度尺段(3-2)以定位所述一级刻度尺段(3-2)的第一螺钉(3-4),所述一级刻度尺段(3-2)上设置有用于抵在二级刻度尺段(3-3)上以定位所述二级刻度尺段(3-3)的第二螺钉(3-5)。

3.根据权利要求1所述的一种测量仪器的测高装置,其特征在于:所述装置壳体(2)上滑动连接有用于锁定卷尺(4)或松开卷尺(4)的制动滑块(7)。

4.根据权利要求1所述的一种测量仪器的测高装置,其特征在于:所述卷尺(4)的一端设置有用于方便拉动卷尺(4)的尺钩(6)。

5.根据权利要求1所述的一种测量仪器的测高装置,其特征在于:所述卷尺(4)由玻璃纤维制成。

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