[实用新型]一种红外杂光系数测量仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学测试装置，特别是一种红外杂光系数测量仪。

背景技术

   光学系统成像时，在像面上除了按正常光路成像外，尚有一些非成像光线落在像面上，这些影响成像质量的有害光称为杂散光，简称杂光，杂光(Veiling glare)是由进入光学或电子光学系统的部分辐射所引起的在该系统像面上的有害光照度，此辐射可以来自该系统视场的外部或内部，杂光产生的原因主要有3个：光学系统视场外部辐射、光学系统内部辐射以及成像光线的散射。

杂光对光学系统像质的影响很大，由于光学系统中光学元件、机械部件等对光的反射、散射和衍射造成非成像光线在像面上扩散的现象，使得系统的成像清晰度变差、对比度降低。光学系统的调制传递函数在整个空间频率范围内将随着杂光系数的增大而降低。因此，杂光系数是反映光学系统成像质量的重要指标，杂光检测是光学系统成像质量检测的重要指标之一，而现有的杂光检测设备的不足之处在于：杂散辐射在像面所产生的辐照度很低，杂光系数测量精度较差；另外，在被测光学系统的入瞳处辐射照度均匀度较差。

实用新型内容

本实用新型的发明目的在于：针对现有技术存在的问题，提供一种测量精度好的红外杂光系数测量仪，尤其体现在辐射照度高、辐射照度均匀度好，稳定准直的入射辐照度场，排除了非制冷情况下环境杂散辐射带来的影响，可以绝对测量入射辐照度，像面辐照度，进而计算出杂光指数PST。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种红外杂光系数测量仪，包括激光光源和被测镜头，沿所述激光光源的光路依次设置有斩波器、滤波器，所述被测镜头的前端设置有电校准辐射计，所述被测镜头的后端设置有辐射照度计，所述辐射照度计的输出端连接锁相放大器的输入端，所述锁相放大器的输出端连接计算机的信号输入端，所述电校准辐射计的输出端连接计算机的另一信号输入端。

优选的，所述滤波器与电校准辐射计之间依次设置有转折镜、扩束镜组和准直镜。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：辐射照度高、辐射照度均匀度好，稳定准直的入射辐照度场，排除了非制冷情况下环境杂散辐射带来的影响，可以绝对测量入射辐照度，像面辐照度，进而计算出杂光指数PST。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图中标记：激光光源--1；被测镜头--2；斩波器--3；滤波器--4；电校准辐射计--5；辐射照度计--6；锁相放大器--7；计算机--8；转折镜--9；扩束镜组--10；准直镜--11。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型作详细的说明。

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

    如图1所示，本实施例红外杂光系数测量仪，包括激光光源1和被测镜头2，本实施例中，激光光源1为CO₂激光器，本实施例中，为提高激光稳定性，激光光源1连接有激光冷水机一台，为了调试和监测激光，激光光源1连接有激光功率计，沿激光光源1的光路依次设置有斩波器3、滤波器4，为了在被测光学系统的入瞳处得到较均匀的辐射照度,并且去掉激光束边缘对激光模式的影响，在光路中设置滤波器4，考虑激光能量的利用率和扩束器制作的可行性，滤波器4的通光孔径釆用1.5mm，以截取高斯分布曲线峰值顶尖部分，确保激光输出为TM₀₀模，以消除激光束截面位置绕入瞳的轴向扰动，被测镜头2的前端设置有电校准辐射计5，被测镜头2的后端设置有辐射照度计6，辐射照度计6的输出端连接锁相放大器7的输入端，锁相放大器7的输出端连接计算机8的信号输入端，电校准辐射计5的输出端连接计算机8的另一信号输入端，滤波器4与电校准辐射计5之间依次设置有转折镜9、扩束镜组10和准直镜11，其功能是将激光先扩束，然后准直，形成光斑直径大于被测光学系统口径的激光准直光束，本实施例中，扩束镜组10釆用非球面反射镜。为防止表面被激光束损伤，材料用耐高温镧系玻璃，表面镀金，反射率＞0.95，本实施例中，为调试光路，并在可见区验证激光扩束和准直效果，还设置有He-Ne激光器，采用本实施例结构，具有测量精度好的有益效果，尤其体现在辐射照度高、辐射照度均匀度好，稳定准直的入射辐照度场，排除了非制冷情况下环境杂散辐射带来的影响，可以绝对测量入射辐照度，像面辐照度，进而计算出杂光指数PST。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。