[实用新型]一种Spee曲线深度测量装置

说明书

技术领域

本发明属于口腔正畸医疗器械领域，具体涉及一种口腔下颌牙列Spee曲线深度测量装置。

背景技术

    从牙齿排列的垂直向位置关系特征可以看出，上下牙列的牙尖（下颌牙弓最低点）高度并不一致，牙列的形态也具有一定的曲度，曲线就是用以描述这一牙列形态特征的重要概念，矢状方向的曲线称为纵曲线，口腔中下颌牙列中，连接切牙的切嵴、尖牙牙尖、前磨尖牙及磨牙颊尖构成的一条连续的凹向上的纵曲线也称Spee曲线，正常牙列该曲线的切牙段较平直，从尖牙向后经前磨牙至第一磨牙的远中颊尖逐渐降低，然后第二、第三磨牙的颊尖又逐渐升高。Spee曲线是正畸诊断和治疗计划制定的重要参考指标，Spee曲线深度是指下颌Spee曲线最低点到下颌平面的垂直距离，下颌平面是由下颌中切牙中点及两侧下颌最后一个磨牙远中颊尖所构成的一个假想平面。Spee曲线深度是临床正畸治疗设计中计算下颌牙列拥挤度的重要参考因素，研究表明整平1mm Spee曲线需要1.5mm的间隙，临床上测量Spee曲线的常规方法是：将直尺放置在下切牙切端与最后一个下磨牙的牙尖上，医生通过肉眼估测两侧Spee曲线最低点至直尺的距离，牙弓两侧各测量一次，取两侧平均值加0.5mm，即为排平牙弓或改正颌曲线所需的间隙。Spee曲线是否正确测量，将影响牙列拥挤度的测量，影响矫治方案的选择，影响错牙合畸形设计时是否需要拔牙来提供间隙。因此，Spee曲线的精确估计具有重要的临床意义。

     目前临床没有专门装置测量Spee曲线，临床常用直尺放置在下切牙切端与最后一个下磨牙的牙尖上，由于下颌牙弓呈弓形，而直尺呈长条直形，故直尺并不能盖过下颌所有牙尖，尤其是Spee曲线中其最低位“牙尖”（ 最低位“牙尖”可以代表Spee曲线最低点，以下均用最低位“牙尖”来表述），因此用直尺法测量下颌牙列最低位“牙尖”到直尺的距离，势必会由于视线偏斜等，造成较大误差。而且，错牙合畸形牙列常较复杂，如牙列左右不对称，下颌中线偏斜，高位错牙合尖牙等等，都影响着下颌牙弓Spee曲线深度的测量。因此，设计一种适合各种复杂下颌牙列的Spee曲线深度测量装置具有重要的临床意义。

 发明内容

为了解决背景技术中提到的技术问题，本发明的目的在于提供一种Spee曲线深度测量装置。

本发明采用的技术方案如下：

一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右牙列上方的两块测量板，测量板的前端或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面；所述测量装置包括设有刻度的测量尺和位于测量尺内且可上下滑动的测量笔。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量笔的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺，其伸出测量尺的长度等于测量板的的厚度。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量装置还包括平板，所述平板位于测量尺的最下端，且与测量尺垂直。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量装置包括设有刻度的测量尺，所述测量尺内设有可以上下滑动的测量笔，所述测量笔的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺，其伸出测量尺的长度等于测量板的的厚度。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板为网板。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板上的测量孔为圆孔。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述主定位杆为可伸缩杆。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述副定位杆的形状为T型。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板的前端和后端均设有可以转动的副定位杆。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述平板的性状为矩形。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述平板位于测量尺的一侧。