[实用新型]用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路

权利要求书

1.一种用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路，其特征在于，包括基准电压产生模块和误差放大处理模块，待测芯片的输出电压与所述的基准电压产生模块的输出端均连接所述的误差放大处理模块的输入端，所述的误差放大处理模块的输出端连接测试机。

2.根据权利要求1所述的芯片ATE测试的高精度电压测量电路，其特征在于，所述的误差放大处理模块包括运算放大器，所述的待测芯片的输出电压通过第一输入电阻连接该运算放大器的同相输入端，所述的基准电压产生模块的输出端通过第二输入电阻连接该运算放大器的反相输入端，该运算放大器的输出端顺序通过输出电阻和第一反馈电阻连接所述的同相输入端，所述的输出电阻和第一反馈电阻之间的节点为该误差放大处理模块的输出端。

3.根据权利要求1或2所述的芯片ATE测试的高精度电压测量电路，其特征在于，所述的基准电压产生模块包括一个可调线性稳压源，该可调线性稳压源的输出端连接所述的误差放大处理模块的输入端。