[实用新型]一种耐磨测试仪有效
申请号: | 201520126009.7 | 申请日: | 2015-03-04 |
公开(公告)号: | CN204405467U | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 刘禹;唐昶宇;鲍超;邓永强;徐克勤;杨建;刘焕明;梅军;黄家伟 | 申请(专利权)人: | 中物院成都科学技术发展中心 |
主分类号: | G01N3/56 | 分类号: | G01N3/56 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 王芸;刘雪莲 |
地址: | 610200 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 耐磨 测试仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种耐磨测试仪,特别是一种可用于纳米至亚微米级镀层的耐磨测试仪,属于物理性质检测设备技术领域。
背景技术
随着表面改性技术的发展,在其进行工业化转化时,通常需要一种简便的测试方法来检验其实际应用价值。磨损实验室对表面层附着物(镀膜)抗磨损性能及粘着性能的一种简便的测试方法。已经有大量的磨损试验机存在。但传统的磨损试验机通常是对大面积、厚度较厚的镀层进行磨损测试,其磨损机通常较大,施力也重,无法对厚度较薄的镀层进行耐磨测验。传统的磨损试验机,当测试表面厚度增大,需要较为不便的操作过程去重新施力部件位置,以补偿厚度造成的力变化;特别是,对于表面极端不平的情况,存在一个较大的施压波动,造成测试结果失真。同时,在我们面临的某些特定应用测试中,针对受磨表面进行来回磨损测试时,我们需要允许该表面有一定的恢复时间而更加符合实际情况要求。而现阶段这类测试仪器还比较缺乏,或者通常价格昂贵,不利于实际推广和相应的实验测试研究。
实用新型内容
本实用新型的第一发明目的在于:针对现有技术存在的大型磨损机无法对厚度较薄的镀层进行耐磨测验问题,提供一种可用于测量纳米至微米级厚度镀层的磨损测试仪。
进一步地,本实用新型的第二发明目的在于:针对待测镀层厚度发生变化、表面不平整需要重新确定施力部位的问题,提供一种用使摩擦部件自动适应待测样品表面的耐磨测试仪。
本实用新型的第三发明目的在于:提供一种可以实现耐磨测试过程中,摩擦表面具有一定恢复时间的耐磨测试仪。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:
一种耐磨测试仪,包括移动控制平台、安装架、样品安装机构、摩擦组件及数据检测装置,所述移动控制平台包括驱动装置和直线导轨,所述直线导轨安装在所述安装架上;所述样品安装机构安装在所述直线导轨上,所述驱动装置驱动所述样品安装机构沿所述直线导轨来回移动;所述样品安装机构包括升降机构和样品夹持机构;所述样品夹持机构用于固定待测样品,所述升降机构用于调节所述样品夹持机构的竖直高度;所述摩擦组件包括摩擦部件,所述摩擦组件安装在所述安装架上且所述摩擦部件位于所述直线导轨的上方,检测时,所述摩擦部件与待测样品接触;所述数据检测装置用于检测耐磨测试仪工作的次数和摩擦组件施加在待测样品上的压力。上述结构的耐磨测试仪,驱动装置驱动样品安装机构沿直线导轨来回移动,实现待测样品与摩擦部件之间的摩擦测试。本实用新型的耐磨测试仪,将所述样品安装机构设置成样品台高度可调的结构,通过调节所述样品台的高度可以调节待测样品和所述摩擦部件之间的间距,从而调节摩擦部件施加在待测样品表面的压力。摩擦部件施加在待测样品表面的压力改变可以改变待测样品表面所受的摩擦力大小。当摩擦部件施加在待测样品表面的压力趋于无限小的时候,待测样品表面所受摩擦力也趋于无限小,可以用于检测纳米至亚微米级厚度的镀层的耐磨性能。与现有技术中只能进行毫米、厘米级镀层厚度耐磨性能测试的耐磨测试仪相比,本实用新型的耐磨测试仪应用范围更广。
作为本实用新型的优选方案,所述升降机构包括升降台、升降螺钉和定位螺钉;所述升降台安装在所述直线导轨上并能沿所述直线导轨来回移动,所述升降螺钉和所述定位螺钉安装在所述升降台上;所述样品夹持机构包括样品台和样品夹持部件,所述样品夹持部件用于将待测样品固定在所述样品台上;所述样品台位于所述升降台的上方,所述升降台和所述样品台通过所述升降螺钉连接;旋转所述升降螺钉可以调节所述样品台在竖直方向上的高度,旋转所述定位螺钉可以使所述定位螺钉接触或离开所述样品台底部。上述结构的样品安装机构,升降螺钉调节样品台高度到位后,旋转所述定位螺钉上端与所述样品台下表面接触,测验过程中,样品台受摩擦部件向下的压力时,所述定位螺钉限制所述样品台向下的运动。本实用新型的样品安装机构。本实用新型的样品安装机构,结构简单、操作简单且成本低。
作为本实用新型的优选方案,所述样品夹持部件为压板和螺钉;所述压板包括两块,分别安装在所述样品台上表面的两侧,所述压板通过所述螺钉固定在所述样品台上。上述结构的样品夹持部件,结构简单、生产成本低且压板与待测样品接触面积大,待测样品固定稳固,测试过程控制更精确。
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