[实用新型]用于测量主观视觉垂直线和主观视觉水平线的检测仪有效

专利信息
申请号: 201520127985.4 申请日: 2015-03-05
公开(公告)号: CN204484068U 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 韩军良;赵永;李靖 申请(专利权)人: 中国人民解放军第四军医大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710032 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 主观 视觉 垂直线 水平线 检测
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于医疗检测设备领域,具体涉及一种用于测量主观视觉垂直线(SVV)和主观视觉水平线(SVH)的检测仪。

背景技术

主观视觉垂直线或主观视觉水平线试验,是在无任何视觉参照暗环境内用与地相垂直的暗光线或与地相水平的暗光线检测人的主观视觉感觉偏离重力垂直线或重力水平线的度数。研究表明,正常人的SVV偏差在±2°以内,而在一侧耳石器和耳石器神经通路损伤后,两侧耳石器入中枢的信息不对称,从而在大脑皮层水平上产生对重力垂直线判断错误,导致出现较大的偏差。1971年,Friedmann首先发现6名梅尼埃病患者迷路切除后SVV偏差达9.84±4.70°。Bohmer和Rickenmann也报道了40名梅尼埃病患者第八对神经全切或前庭神经选择性切断者的SVV,发现其SVV偏差达10.74±5.5°。中枢某些病变也会有SVV偏差的表现。如目前发现急性脑干损害病人会发生SVV偏差。涉及到前庭核团的低位脑干损害病人SVV常偏向损害侧,而涉及Cajal间质核的高位脑干损害、小脑节(nodulus)损害的病人SVV常偏离病侧即偏向健侧。因此,SVV测试可以反映双侧前庭耳石器传入信息的对称性,为临床上与此相关的疾病诊断提供有意义信息。近年来研究发现,SVH和在矢状面的SVV对双侧耳石器通路信息传入失衡也有一定意义。林鹏研究发现单侧外周前庭功能减退患者的主观视觉水平线与主观视觉垂直线之间呈正相关,主观视觉水平线与主观视觉垂直线都可以用来评估耳石器(椭圆囊)的功能。Arnaud Saj研究发现低位脑干梗死的患者的SVV会在矢状面上发生一个向后的偏斜。SVV的检测容易受到视觉参照物的影响,目前常采用的方法是在暗室条件下、屏蔽视野的环境中进行,即受检者在暗室环境中,前方置一荧光或发光二极管柱形杆,受检者凭感觉将柱形杆置于垂直方位,该方位与实际铅直位置的夹角即SVV偏差。王鹏军发明了一种可移动的SVV检查仪,解决了上述检测的便捷问题,但其采用人工读数,测量精度仅为1度;并且无法测量SVH和SVV在矢状面的偏差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于测量主观视觉垂直线和主观视觉水平线的检测仪。

为达到上述目的,本实用新型采用了以下技术方案:

该检测仪包括检测模块,所述检测模块包括安装板、设置于安装板上的用于遮挡光线的筒体、设置于所述筒体内的可以发光的指针、用于驱动所述指针转动的步进电机以及用于检测所述指针的转动位置的角度传感器,所述指针与贯穿所述筒体两端端面的中心线相垂直,所述筒体上开设有三个用于观察所述指针的观测口,其中一个观测口布置在所述筒体的端面上,另两个观测口布置在所述筒体的侧壁上。

所述检测模块还包括步进电机控制手柄、PLC(单片机)、步进电机细分驱动器以及数显表,所述步进电机与步进电机细分驱动器相连,步进电机细分驱动器、数显表、所述角度传感器以及步进电机控制手柄分别与PLC相连。

所述检测模块还包括盒体,安装板与盒体的一端铰接,盒体内设置有用于使安装板翻转的气动杆,PLC、步进电机细分驱动器以及数显表设置于盒体内,盒体上设置有数显表观察口。

所述步进电机采用双出轴步进电机,双出轴步进电机的一端通过第一刚性联轴器与所述指针相连,另一端通过第二刚性联轴器与所述角度传感器相连,双出轴步进电机和所述角度传感器通过设置于安装板上的支架固定于所述筒体的一端外。

所述检测仪还包括移动支撑平台以及设置于移动支撑平台上的丝杆升降器,检测模块的盒体与丝杆升降器相连。

所述移动支撑平台包括平台体以及设置在平台体下端的万向轮,平台体上设置有支撑架以及用于给检测模块供电的蓄电池,所述丝杆升降器与支撑架相连。

所述指针为T字形,T字形的竖直部分为连接结构,T字形的水平部分的表面设置有荧光漆层,T字形的水平部分通过所述连接结构与所述步进电机相连,T字形的水平部分与所述中心线相垂直。

本实用新型的有益效果体现在:

本实用新型通过步进电机、角度传感器完成对于指针的控制和角度位置读取,提高了检测的精确性,并且检测更为便捷,同时,本实用新型通过在所述筒体上设置三个观测口,可以在一台仪器上完成对于主观视觉垂直线和主观视觉水平线偏差的测量,并且还克服了现有检测仪器无法在矢状面和水平面测量偏差的不足。

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