[实用新型]高温度稳相射频同轴测试电缆

说明书

【技术领域】

本实用新型属于射频通讯测试技术领域，特别是涉及一种高温度稳相射频同轴测试电缆。

【背景技术】

同轴测试电缆是测试器件产品的一种电缆，主要用于连接射频微波测试仪器与被测器件产品的电缆。现有的温度稳相测试电缆一般包括中心导体、绝缘介质、内屏蔽、外屏蔽、外护套、铠甲。此结构的测试电缆，绝大多数采用的是温度稳相电缆外加铠甲模式，其内部的温度稳相电缆最多可以保证在-45℃～85℃温度范围内温度稳相性低至550PPM，但在连接测试时测试电缆不可伸入到高温的环境箱内，这样就使得被测电缆必须有一部分不能完全处在环境箱内，造成测试数据的误差较大。

因此，有必要提供一种新的高温度稳相射频同轴测试电缆来解决上述问题。

【实用新型内容】

本实用新型的主要目的在于提供一种耐高温、测试精度高的高温度稳相射频同轴测试电缆。

本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种高温度稳相射频同轴测试电缆，其包括位于中心的中心导体、包裹在所述中心导体外围的介质层、包裹在所述介质层外围的内屏蔽层、包裹在所述内屏蔽层外围的外屏蔽层、包裹在所述外屏蔽层外围的外护套层以及包裹在所述外屏蔽层的铠甲装置，所述铠甲装置与所述外护套层之间留有缝隙，所述缝隙中填充有冷却液体。

具体的，所述铠甲装置包括套在所述外护套层上的弹性件、完全包裹住所述弹性件的铠甲层。

具体的，所述铠甲层在生产时采用高温挤出工艺，其内径为9.0～9.8mm。

具体的，所述介质层采用新型低密度聚四氟乙烯绕包工艺制成。

具体的，所述内屏蔽层是采用镀银铜绕包工艺制成的，其镀银厚度为0.2～0.5um。

具体的，所述外护套层采用的是聚全氟乙丙烯高温挤出工艺，其外径为3.6mm。

与现有技术相比，本实用新型高温度稳相射频同轴测试电缆的有益效果在于：在铠甲装置与外护套层之间留有缝隙，并在缝隙中填充有冷却液体，可使的内部的温度稳相电缆受温度变化而引起相位的变化减小，这样可使得整个测试电缆在-45℃～85℃温度范围内温度稳相性低至120PPM，极大的提高了电缆的温度稳相性，在测试时使得测试的数据更加准确。

【附图说明】

图1为本实用新型一种高温度稳相射频同轴测试电缆的结构示意图。

图中数字表示：

100高温度稳相射频同轴测试电缆；

1中心导体；2介质层；3内屏蔽层；4外屏蔽层；5外护套层；6铠甲装置，61弹性件，62铠甲层；7缝隙。

【具体实施方式】

请参照图1，本实用新型为高温度稳相射频同轴测试电缆100(以下简称为电缆)，其包括位于中心的中心导体1、包裹在中心导体1外围的介质层2、包裹在介质层2外围的内屏蔽层3、包裹在内屏蔽层3外围的外屏蔽层4、包裹在外屏蔽层4外围的外护套层5以及包裹在外屏蔽层5的铠甲装置6。

中心导体1采用的是镀银铜导电材质。介质层2采用新型LD-PTFE(低密度聚四氟乙烯)绕包工艺制成。聚四氟乙烯(Teflon或PTFE)，俗称“塑料王”，是由四氟乙烯经聚合而成的高分子化合物，其耐高低温性能好——可在200℃～260℃环境中长期使用，在低温-100℃时，仍能保持柔软；高润滑——其摩擦系数为0.04，是塑料中摩擦系数最小的；不粘性——具有固体材料中最小的表面张力而不粘附任何物质。因此使得电缆在通讯传输中具有非常低的损耗，且具有较高的温度稳定性，在-45℃～85℃温度范围内，其温度稳相性能达到550PPM。

内屏蔽层3是采用镀银铜绕包工艺制成的，其镀银厚度为0.2～0.5um，由于银具有丰富的延展性，因此，可提高电缆的弯曲性。

外屏蔽层4采用的是镀银铜丝编织工艺，通过编织工艺不仅增加了电缆的屏蔽效率，同时也增加了电缆的抗拉强度，且使得外屏蔽层4能够紧紧的包裹在电缆的内屏蔽层3上。

FEP的耐高低温性能好，可在-250℃～200℃温度下长期使用；耐磨性好，自润滑性能优良，电绝缘性优异，并且不受工作环境的湿度、温度和频率的影响，具有良好的耐电弧性；耐化学腐蚀性优良，广泛的应用于各个领域，如机械工业用作密封圈、仪器仪表零部件等；电气工业用作电缆绝缘层、电缆护套等。外护套层5采用的是FEP(聚全氟乙丙烯)高温挤出工艺，其外径为3.6，可使电缆温度承受能力达到-75℃～200℃，同时具有防腐蚀、耐盐雾等特点，这样便使电缆能够适应各种外部环境，提高电缆的寿命，扩大其适用范围。