[实用新型]腐蚀速率测量系统有效

专利信息
申请号: 201520148367.8 申请日: 2015-03-16
公开(公告)号: CN204758457U 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 罗伯特·C·海德克;弗雷德·C·西特勒;查尔斯·R·威勒克斯 申请(专利权)人: 罗斯蒙特公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪洋
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 腐蚀 速率 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种腐蚀速率测量系统,包括:

第一材料的第一膜,所述第一膜被构造为暴露向腐蚀材料并且响应于腐蚀而偏转;

第二材料的第二膜,所述第二膜被构造为暴露向腐蚀材料并且响应于腐蚀而偏转;

压力传感器,所述压力传感器被可操作地联接到第一和第二膜中的至少一个,并且被构造为根据压力和第一和第二膜中的至少一个的腐蚀量来测量第一和第二膜中的至少一个的偏转。

2.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二材料是相同的。

3.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二材料是不同的。

4.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二材料具有不同的厚度。

5.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二材料具有不同的表面面积。

6.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,包括填充管道的并且联接第一膜与压力传感器的第一流体。

7.根据权利要求6所述的腐蚀速率测量系统,包括填充管道的并且联接第二膜与压力传感器的第二流体。

8.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中压力传感器包括联接到第一和第二膜的压差传感器。

9.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中压力传感器包括可操作地联接到第一膜的第一压力传感器和可操作地联接到第二膜的第二压力传感器。

10.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一膜或第二膜包括覆盖压力传感器的一部分的牺牲涂层。

11.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一膜包括细长的管道。

12.根据权利要求11所述的腐蚀速率测量系统,其中第二膜包括细长的管道。

13.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二膜中的至少一个包括至少部分地包围一腔体的薄膜,其中该腔体的体积根据腐蚀而发生改变。

14.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二膜至少部分地包围各自的第一和第二腔体,其中所述第一和第二腔体的体积根据施加的压力和第一膜的腐蚀中的至少一个而发生改变。

15.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中压力传感器提供与根据所施加的压力而改变的电容相关的输出。

16.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中,内部背压被施加到第一和第二膜中的至少一个。

17.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一膜被承载在与压力传感器间隔开的远程密封件上。

18.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,包括壳体,并且其中第一膜被承载在所述壳体中。

19.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中第一和第二膜被承载在环插入件上,该环插入件适于被安装在过程管道的法兰之间。

20.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,包括过程延伸件,该过程延伸件被构造为延伸到过程流体中,并且其中第一和第二膜被承载在过程延伸件上。

21.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中压力传感器包括应变测量传感器。

22.根据权利要求1所述的腐蚀速率测量系统,其中压力传感器具有根据所施加的压力而改变的电阻。

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